自动检测技术及仪表控制系统 第二版课件 教学课件 ppt 作者 张毅 张宝芬 曹丽 彭黎辉 编著4 温度检测.ppt

4.2.3 集成温度传感器 晶体管基极——射极正向压降随温度升高而减少 V1、V2：镜像管 V3、V4：温度检测用晶体管， 二者发射极面积比为m R、m一定时，输出电流与 温度有良好的线性关系 集成温度传感器原理图 4.3.1 辐射测温原理 4.3.1.1 普朗克定律：绝对黑体的单色辐射强度 与波长及温度的关系 4.3.1.2 维恩位移定律：单色辐射强度的峰值波长 与温度的关系 4.3.1.3 绝对黑体的全辐射定律 4.3.2 辐射测温仪表的基本组成及常用方法 各种辐射测温系统一般只接收一定波长范围内的辐射能 辐射测温常用方法： 亮度法，全辐射法，比色法，多色法 辐射测温仪表主要组成框图 4.3.3 辐射测温仪表 4.3.3.1 光电高温计：通过测量某一波长下物体辐射亮度的变化测知其温度 光电高温计的工作原理 1—物镜；2—孔径；3，5—孔；4—光电器件；6—遮光板；7—调制片；8—永久磁铁； 9—激磁绕组；10—透镜；11—反射镜；12—观察孔；13—前置放大器； 14—主放大器；15—反馈灯；16—电位差计；17—被测物体 4.3.3 辐射测温仪表 4.3.3.2 辐射温度计 依据全辐射定律，敏感元件感受物体的全辐射能量来测知物体的温度 透镜式和反射镜式的示意 1—光阑；2—检测元件；3—输出端子；4—外壳；5—反射聚光镜；6—透镜 4.3.3 辐射测温仪表 4.3.3.3 比色温度计 利用被测对象的两个不同波长（或波段）光谱辐射亮度之比实现辐射测温 单通道、双通道、色敏型 维恩位移定律 单通道型比色温度计原理 1—物镜；2—调制盘；3—检测元件； 4—放大器；5—计算电路；6—显示仪表；7—马达；8—滤光片 4.3.4 辐射测温仪表的表观温度 辐射仪表的表观温度是指在仪表工作波长范围内，温度为T的辐射体的辐射情况与温度为TA的黑体的辐射情况相等，则TA就是该辐射体的表观温度 亮度温度 辐射温度 比色温度 敏感元件（或能量传输介质）：光纤 型式：接触式和非接触式，功能型和非功能型 特点：电绝缘性能好，可弯曲，可实现不带电的全光探头 构成：光源激励、光源、光纤（含敏感元件）、光检测器、光电转换及处理系统、连接件 4.4.1 液晶光纤温度传感器 原理：液晶的“热色”效应 4.4.2 荧光光纤温度传感器 原理：荧光材料的荧光强度随温度而变化，或荧光强度的衰变速度随温度而变化 4.4.3 半导体光纤温度传感器 原理：半导体的光吸收响应随温度而变化，根据透过半导体的光强变化检测温度 半导体材料透光率与温度的特性 4.4.3 半导体光纤温度传感器 半导体光纤温度传感器的装置简图及探头结构 1—光源；2—光纤；3—探头；4—光探测器；5—不锈钢套；6—半导体吸收元件 4.4.4 光纤辐射温度计 原理和分类与普通的辐射测温仪表类似 短波，亮度法或比色法 光纤辐射温度计 1—光纤头；2—耦合器；3—光纤； 4—信号处理单元 光纤敏感探头的多种形式 (a)直型(b)楔型(c)带透镜型 (d)黑体型 4.5.1 管道内流体温度的测量 接触式测温 测点位置；插入深度；减少高温管道测点的热损失 几种常见测温元件安装方式 4.5.2 烟道中烟气温度的测量 接触式，减低套管的导热误差和向周围环境的辐射误差 可抽气加大流速，增强对流换热，减少辐射误差 测温元件外围加热屏蔽罩 1—外壁；2—屏蔽罩；3—温度计 抽气装置的示意图 4.5.3 非接触法测量物体表面温度 提高测量准确性的措施： 1）合理选择测量距离 2）减小发射率影响 3）减少光路传输损失 4）减低背景辐射影响 自动检测技术及仪表控制系统 第二版 化学工业出版社 Company name Company name Company name Company name Company name Company name Company name Company name Company name Company name 4 温度检测 自动检测技术及仪表控制系统 第二版 化学工业出版社 Contents 4.1测温方法及温标 4.2 接触式测温 4.3 非接触式测温 4.4 光纤温度传感器 4.5 测温实例 4.1.1 测温原理及方法 测温原理 测温方式 接触式：传热和对流，热接触，破坏被测对象热平衡，置入误差，对测温元件要求高 非接触式：热辐射，响应快，对被测对象干扰小，可测高温、运动对象，强电磁干扰、强腐蚀 4.1.1