表面和低维纳米结构STS谱.pptVIP

表面与低维纳米结构的STS谱 王 兵 中国科学技术大学 总结 I-V 谱和微分电导谱反映了电子局域态密度在不同能量下的分布，dI/dV图像则近似反映了某一能量下电子局域态密度在实空间的分布。 二次微分谱和d2I/dV2图像可以用来研究分子的振动态。 I-t谱可以用来研究表面化学反应和表面扩散运动 I-z谱可以用来测量表面功函数，实现原子接触等 谢 谢！ In our previous studies, we have performed such measurement for ultrasmall metal nanoclusters, and revealed their discreteness of the energy levels. By amorphization of such nanoparticles, we can suppress its discreteness of the energy levels Analog to the semiconductor diode based on PN junction, Aviram and Ratner proposed a molecular structure with D-sigma-A, where sigma is a saturated covalent bridge. It works like a diode due to the LUMO-HOMO of A and D part of the molecule asymmetrically positioned respect to the Fermi level of the electrodes, thus produce asymmetric I-V features, i.e. molecular rectification. However, molecular rectification is rarely observed in such a system. Instead, people observed rectification in ionic D-PI-A system in molecuar films, where PI is a conjugated bridge. 扫描隧道谱(STS)---量子点类原子轨道成像 量子点精细电子态 金属量子点中尺寸依赖的精细能级结构 B. Wang et al., Phys. Rev. B 2004 量子点中的新效应 Static：order disorder； energy spacing dynamic：electron-electron interaction； electron-phonon interaction (minor) crystalline amorphous J.G. Hou, Phys. Rev. Lett. 2003 非晶化对金属量子点中限域效应的抑制作用 电子态密度 直接成像，结合空间分辨率，同时实现能量与空间分辨 揭示Dy@C82富勒烯团簇的电子结构 通过dI/dV显微术在能量空间分辨条件下，实现对Dy@C82分子进行“透视”观察，并成功确定碳笼内金属原子的位置。 Dy@C82 Phys. Rev. Lett. 2003 富勒烯分子dI/dV成像 振动谱探测单分子结构 H.J. Lee and W. Ho, Phys. Rev. B 61, R16347 (2000). 二次微分 d 2I/dV 2及成像 (a)为C2H2和C2D2的恒流像，(b)，(c)，(d)分别为同一区域在358mV，266mV，311mV下的d2I/dV2图像，左边的分子为C2H2，右边的分子为C2D2。 C2H2, C2H2 on Cu(100) Background difference d2I/dV2 spectra for C2H2 (1) and C2D2 (2), taken with the same STM tip, show peaks at 358 mV and 266 mV, respectively. B. C. Stipe, M. A. Rezaei, and W. Ho, Science, 280,1732 (1998) 二次微分 d 2I/dV 2及成像 部分烃类分子的二次微分谱比较，这些分子具有1～4个振动模式，其中C-H键的伸张振动模式占主导地位 W. Ho, J. Chem. Phys., 117, 11033 (2002) Science, 30