微小电阻测试方案-泰克.PDFVIP

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  • 2019-08-18 发布于北京
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微小电阻测试方案-泰克.PDF

吉时利微电子半导体行业方案 微小电阻测试方案 微小电阻测试方案 方案技术白皮书 泰克 TSP-2000-ULR (6220/6221 + 2182A ) 测试方案 系统背景 电阻测试是表征材料特性的最常用测试手段,在某 些应用中,用户需要进行极端微小电阻(Ultra-low● resistance)测试,例如纳米材料,超导材料,继电 器开关,低电阻材料、连接器的测试,或者精密的热 量测定和研究领域。这些被测件通常具有非常高的导 电性和非常小的电阻阻值,对测试连接方案有很大挑 相比其他方法,622X●+●2182A方案提供了高达10nW 战。在进行这类材料和器件的测试过程中,为了最大 的电阻测试分辨率,提供了极高的性价比。 限度的降低被测设备的自热效应,确保待测件的安全 ●●更好的发热控制

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