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* * 1、一个点超出控制上下限 2、连续8点在中心线一侧 3、连续6个点稳步上升或下降 4、连续8点在中心线两侧 ，但没有点落在 一个?内 * 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 1 2 3 4 5 6 7 8 9 Subgroup Performance Measure 7、连续15个点在中心线的C区内交替出现 6、连续5点中有4点在中心线同一侧的C区外 . 5、连续3点中有2点在中心线同一侧是的B区外 * 超出控制限的点：出现一个或多个超出控制限的点 零件间的差异性已经变化（变大或变小） 测量系统变化（如不同的检验员或量具） 测量系统没有适当的分辨力。 链：连续八点在平均值的一侧或七点连续上升/下降 过程均值已改变，也许还在变化 测量系统已改变 明显非随机图形：如明显的趋势、周期性、数据点的分布在整个控制限内、或子组内的数据间有规律性等。 数据经过编辑 过程或抽样方法造成连续的分组中包含从两个或多个具有明显不同变化性的过程流的测量值。 * 控制图分析 * 重新计算控制限 在失控的原因被识别消除或制度化，应重新计算控制限 排除受特殊原因影响的子组，然后重新计算控制限 注重新计算控制限之前一定要改变过程，以使特殊原因不会作为过程的一部分重现 QP-028 A1 《SPC管理程序》 Ｄ过程能力解释 D1计算过程的标准偏差? D2计算过程能力指数Cpk D3评价过程能力 D4提高过程能力 D5对修改的过程绘制控制图并分析 步骤D：过程能力解释 * * 计算过程的标准偏差σ和能力指数Cpk Cpk：过程能力指数。 计算Cpk两个前提条件： 条件1：过程输出服从正态分布（MINITAB正态检验) 条件2：过程处于统计控制状态（X-R图无出界点) σ通常通过控制图的R/d2来估计： *  过程能力指数Cpk示意图 规格下限LSL 规格上限USL 规格中心 M μ ≠ M 3σ μ * Cpk等级判定 等级 Cpk值 处理原则 A+ 1.67??≤? Cpk　??????????? 无缺点考虑降低成本 A 1.33??≤?Cpk? ≤1.67 维持现状 B 1??≤ Cpk? ≤ 1.33 有缺点发生 C 0.67??≤ ?Cpk? ≤ ?1　??? 立即检讨改善 D 　　　? Cpk? ≤ 0.67 采取紧急措施进行品质改善，并研讨规格? * 客户要求 客户 产品类型 测试项目 Cpk 备注 AVAGO Chip PLCC产品 固晶推力、金球推力一二焊、金线拉力正负极 1.5 每两周一次提供X-R图和Cpk Philips 3014 3030 固晶推力、金球推力一二焊、金线拉力正负极 1.33 每两周一次提供X-R图和Cpk Osram 5630 固晶推力、金球推力一二焊、金线拉力正负极 1.66 / Bridgelux XC35 固晶推力、二极管推力、金球推力ABCDE（on die）、金线拉力ABCDE 1.33 每次量产的批次，要求提供CPK * 三、使用MINITAB进行SPC的数据分析 1、Minitab过程能力分析步骤 2、 Minitab正态性检验步骤 3、Minitab“六合一”的一条龙全流程 raozhong@163.net * 过程能力分析步骤1: * 过程能力分析步骤2: raozhong@163.net * 过程能力分析步骤3: raozhong@163.net * Minitab正态性检验步骤1: Minitab正态性检验步骤2: * raozhong@163.net * P值=0.215＞0.05， 数据服从正态分布 Minitab正态性检验步骤3: raozhong@163.net * Minitab“六合一”的一条龙全流程第1步：