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- 2019-07-26 发布于贵州
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Figure 7 - 第七章 COMS IC 制造工艺流程 主要内容 1. 典型的亚微米 CMOS IC 制造流程图; 2. 描述 CMOS 制造工艺14个步骤的主要目的; 4. 讨论每一步 CMOS 制造流程的关键工艺。 CMOS工艺流程中的主要制造步骤 CMOS 制作步骤 1. 双井工艺 2. 浅槽隔离工艺 3. 多晶硅栅结构工艺 4. 轻掺杂漏(LDD)注入工艺 5. 侧墙的形成 6. 源/漏(S/D)注入工艺 7. 接触孔的形成 8. 局部互连工艺 9. 通孔1和金属塞1的形成 10. 金属1互连的形成 11. 通孔2和金属2的形成 12. 金属2互连的形成 13. 制作金属3、压点及合金 14. 参数测试 一、双井工艺n-well Formation 1)外延生长2)厚氧化生长 保护外延层免受污染;阻止了在注入过程中对硅片的过渡损伤;作为氧化物屏蔽层,有助于控制注入过程中杂质的注入深度。3)第一层掩膜4)n井注入(高能)5)退火 p-well Formation1)第二层掩膜2) P井注入(高能)3)退火 二、浅曹隔离工艺STI 槽刻蚀1)隔离氧化层2)氮化物淀积3)第三层掩膜,浅曹隔离4)STI槽刻蚀(氮化硅的作用:坚固的掩膜材料,有助于在STI氧化物淀积过程中保护有源区;在
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