仪器分析-第七章-原子吸收光谱-zcq-3解析.pptVIP

第四节原子吸收光谱法的 干扰及其抑制 一、光谱干扰 (谱线干扰、背景干扰) 〈二〉背景干扰和抑制 2.背景干扰校正方法 （2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法 二、物理干扰及抑制 三、化学干扰及抑制 2.化学干扰的抑制 * 一、光谱干扰及抑制 spectrum interference and elimination 二、物理干扰及抑制 physical interference and elimination 三、化学干扰及抑制 chemical interference and elimination 四、电离干扰及抑制 ionization interference and elimination 〈一〉谱线干扰和抑制 待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类干扰主要来自光源和原子化装置，主要有以下几种： 2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射。 换用纯度较高的单元素灯减小干扰。 1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线。 可以通过减小光谱通带宽度的方法来抑制这种干扰。 产生正偏差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重 背景干扰主要是指原子化过程中所产生的分子吸收和固体微粒的光散射。 1. 分子吸收与光散射 分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。 光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。 如何消除？ (1) 氘灯（连续光谱）背景校正 旋转切光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰； 连续光谱通过时：测定的为背景吸收(此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略)； 共振线通过时，测定总 吸收； 差值为有效吸收； Zeeman效应：在磁场作用下简并的谱线发生分裂的现象； 校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰时，只产生背景吸收； 优点：校正能力强（可校正背景 A　1.2～2.0）； 可校正波长范围宽：190 ～ 900nm ； （3）在实际工作中，多采用改变火焰类型、燃助比、调节火焰高度来抑制分子吸收干扰。石墨炉原子吸收则选择基体改进剂，采用选择性挥发来抑制分子吸收干扰。 试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应，主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小、原子化效率等。 这些物理因素有：溶液粘度、表面张力、气体压力等。 可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑制。 （1）阳离子间干扰 例：钙、镁、钴、硅、铝、钛在火焰中易生成难熔化合物； （2）阴离子干扰 如：钙与硫酸盐、磷酸盐生成难挥发物 （3）阴、阳离子共同干扰 如：测钙、铝有干扰并与阴离子有关。 指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应,主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。 1. 化学干扰的类型 待测元素与共存物质作用生成难挥发或难解离的化合物、 致使参与吸收的基态原子减少。 （3）饱和剂—加入足够的干扰元素，使干扰趋于稳定。 例：测钛时，铝有干扰,在试样和标准溶液中加入300mg·L-1以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。 通过在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来抑制或减少化学干扰： （1）释放剂—与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释放 出来。 例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。 （2）保护剂—与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物质与其作用。 例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。 （4）基体改进剂—改变基体或被测元素化合物的热稳定性 （5）化学分离法 待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收，总吸收强度减弱，电离电位≤6eV的元素易发生电离，火焰温度越高，干扰越严重，（如碱及碱土元素）。 消电离剂—加入大量易电离的物质，产生大量的电子，以抑制待测元素的电离。 例：加入足量的铯盐，抑制K、Na的电离。 测定Ca时加入大量 KCl 常用的消电离剂有 CsCl、 KCl、NaCl。 四、电离干扰及抑制 如何消除呢? * *