可测性设计及DF软的使用.ppt

THANK YOU SUCCESS * * 可编辑 * * U1是为了避免输出端的毛刺而加的，未改变实际电路的功能，为冗余电路，故不可测 20007-11-5 共49页 * D算法 20007-11-5 共49页 * D算法-activate the SA0 fault 20007-11-5 共49页 * D算法-propagate fault effect 20007-11-5 共49页 * D算法-anatomy of a test pattern 20007-11-5 共49页 * D算法-record the test pattern 20007-11-5 共49页 * DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 20007-11-5 共49页 * DFT常用方法 功能点测试 ? 需在每个测试点增加可控的输入和输出，I/O增加 扫描测试? ? 结构化的DFT技术，全扫描和部分扫描 内建自测试 ? 消除了对ATE的存储能力和频率的限制，更具发展潜力 THANK YOU SUCCESS * * 可编辑 20007-11-5 共49页 * 扫描测试(1/2) 20007-11-5 共49页 * 扫描测试(2/2) 20007-11-5 共49页 * Outline DFT基础 DFTCompile生成扫描链 TetraMAX生成ATPG