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实验四二阶系统(振荡环节)的动态性能测试
一、实验目的
1、研究二阶系统的特征参数,阻尼比?和无阻尼自然频率对系统动态性能的影响。定量分析和与最大超调量和调节时间之间的关系;
2、进一步学习实验系统的使用方法;
3、学会根据系统阶跃响应曲线确定传递函数。
二、实验仪器
1、EL-AT-II型自动控制系统实验箱一台
2、计算机一台
三、实验原理
控制系统模拟实验采用复合网络法来模拟各种典型环节,即利用运算放大器不同的输入网络和反馈网络模拟各种典型环节,然后按照给定系统的结构图将这些模拟环节连接起来,便得到了相应的模拟系统。再将输入信号加到模拟系统的输入端,并利用计算机等测量仪器,测量系统的输出,便可得到系统的动态响应曲线及性能指标。若改变系统的参数,还可进一步分析研究参数对系统性能的影响。
时域性能指标的测量方法:
超调量%:
1、启动计算机,在桌面双击图标[自动控制实验系统]运行软件。
2、测试计算机与实验箱的通信是否正常,通信正常继续。如通信不正常查找原因使通信正常后才可以继续进行实验。
3、连接被测量典型环节的模拟电路。电路的输入U1接A/D、D/A卡的DA1输出,电路的输出U2接A/D、D/A卡的AD1输入。检查无误后接通电源。
4、在实验课题下拉菜单中选择实验二[二阶系统阶跃响应]。
5、鼠标单击实验课题弹出实验课题参数窗口。在参数设置窗口中设置相应的实验参数后鼠标单击确认等待屏幕的显示区显示实验结果。
6、利用软件上的游标测量响应曲线上的最大值和稳态值,带入下式算出超调量:
与:
利用软件的游标测量水平方向上从零到达最大值与从零到达95%稳态值所需的时间值,便可得到与。
四、实验内容
典型二阶系统的闭环传递函数为
(1)
其中和对系统的动态品质有决定的影响。
构成图1-7典型二阶系统的模拟电路,并测量其阶跃响应:
图1-7二阶系统模拟电路图
电路的结构图如图1-8:
图1-8二阶系统结构图
系统闭环传递函数为
(2)
式中T=RC,K=R2/R1。
比较(1)、(2)二式,可得
?n=1/T=1/RC,?=K/2=R2/2R1(3)
由(3)式可知,改变比值R2/R1,可以改变二阶系统的阻尼比。改变RC值可以改变无阻尼自然频率?n。
今取R1=200K,R2=100K?和200K?,可得实验所需的阻尼比。电阻R取100K?,电容C分别取1?f和0.1?f,可得两个无阻尼自然频率?n。
五、实验步骤
1、连接被测量典型环节的模拟电路。电路的输入U1接A/D、D/A卡的DA1输出,电路的输出U2接A/D、D/A卡的AD1输入。检查无误后接通电源。
2、启动计算机,在桌面双击图标[自动控制实验系统]运行软件。
3、测试计算机与实验箱的通信是否正常,通信正常继续。如通信不正常查找原因使通信正常后才可以继续进行实验。
4、在实验课题下拉菜单中选择实验二[二阶系统阶跃响应],鼠标单击该选项弹出实验课题参数窗口。
5、取?n=10rad/s,即令R=100K?,C=1?f;分别取?=0.5、1、2,即取R1=100K?,R2分别等于100K?、200K?、400K?。输入阶跃信号,测量不同的?时系统的阶跃响应,并由显示的波形记录最大超调量Mp和调节时间Ts的数值和响应动态曲线,并与理论值比较。
6、取?=0.5。即电阻R2取R1=R2=100K?;?n=100rad/s,即取R=100K?,改变电路中的电容C=0.1?f(注意:二个电容值同时改变)。输入阶跃信号测量系统阶跃响应,并由显示的波形记录最大超调量?p和调节时间Tn。
7、取R=100K?;改变电路中的电容C=1?f,R1=100K?,调节电阻R2=50K?。输入阶跃信号测量系统阶跃响应,记录响应曲线,特别要记录Tp和?p的数值。
8、测量二阶系统的阶跃响应并记入表1-2中:
六、实验报告
1、画出二阶系统的模拟电路图,讨论典型二阶系统性能指标与,的关系。
2、把不同和条件下测量的和值列表,根据测量结果得出相应结论。
3、画出系统响应曲线,再由和计算出传递函数,并与由模拟电路计算的传递函数相比较。
表1-2二阶系统的阶跃响应数据记录表(学生填写)
实验结果
参数
σ%
tp(ms)
ts(ms)
阶跃响应曲线
R=100K
C=1μf
ωn=10rad/s
R1=100K
R2=0K
ζ=0
R1=100K
R2=50K
ζ=0.25
R1=100K
R2=100K
ζ=0.5
R1=50K
R2=200K
ζ=1
R1=100K
C1=C2=0.1μf
ωn=100rad/s
R1=100K
R2=100K
ζ=0.5
R1=50K
R2=200K
ζ=1
七、预习要求
1、阅读实验原理部分,掌握时域性能指标的测量方法。
2、按实验中二阶系统的给定参数,计算出不同,下的
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