可测性设计及dft软件的使用.ppt

20007-11-5 共49页 * 设计 流程 20007-11-5 共49页 * 普通D触发器 20007-11-5 共49页 * Test-Ready Compilation set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop \ -clock_mixing no_mix \ -chain_count 1 set_dft_signal -view existing_dft -type ScanClock -port clk -timing {1 8.5} set_dft_signal -view existing_dft -type Reset -port rst_n -active_state 0 set_dft_signal -view spec -type ScanEnable -port se -active_state 1 set_dft_signal -view spec -type ScanDataIn -port a set_dft_signal -view existing_dft -type ScanDataOut -port o 20007-11-5 共49页 * Test DRC check_scan or check_test 这两个命令检查以下四类可测性问题： 模型问题，诸如是否缺少相应的扫描单元； 拓扑结构问题，例如是否存在不受时钟控制的组合逻辑反馈回路； 确定测试协议，如找出测试时钟端口，找出测试模式下固定电平的测试状态端口； 测试协议仿真，检查扫描过程是否可以正确的进行。 20007-11-5 共49页 * Preview Scan Architecture preview_scan –show all 预览将要生成的扫描链的大致情况，及时发现不合乎要求的地方。 20007-11-5 共49页 * Scan Insertion insert_scan 使扫描触发器串链，建立和排序扫描链，同时进行优化以去除违反的DRC规则。 20007-11-5 共49页 * 扫描触发器 20007-11-5 共49页 * Report report_constraint -all_violators report_scan_path -view existing_dft -chain report_scan_path -view existing_dft -cell estimate_test_coverage 共49页 共49页 * * U1是为了避免输出端的毛刺而加的，未改变实际电路的功能，为冗余电路，故不可测 可测性设计及DFT软件的使用 张艳 2007-11-5 20007-11-5 共49页 * Outline DFT基础 DFTCompile生成扫描链 TetraMAX生成ATPG 设计实例 20007-11-5 共49页 * DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 20007-11-5 共49页 * 测试(1-3) CMOS 反相器 中的物 理缺陷 20007-11-5 共49页 * 测试(2-3) 目前的 产品测 试方法 20007-11-5 共49页 * 测试(3-3) ATE 20007-11-5 共49页 * DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 20007-11-5 共49页 * DFT(Design For Test) controllability observability 20007-11-5 共49页 * DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 20007-11-5 共49页 * 故障模型 物理故障 逻辑故障 封装引脚间的漏电或短路 单一固定故障 芯片焊接点到管脚连线断裂 延时故障 表面玷污、含湿气 静态电流故障 金属层迁移、应力、脱皮 … 金属层开路、短路 … … … 20007-11-5 共49页 * 单一固定故障 20007-11-5 共49页 * 等价故障(1/3) 20007-11-5 共49页 * 等价故障(2/3) 20007-11-5 共49页 * 等价故障(3/3) NAND的输入SA0和输出的SA1效果等效 {A SA0,B SA0,Y SA1}是一个等效故障集 20007-11-5 共49页 * 故障压缩 20007-11-5 共49页 * 不可测故障 20007-11-5 共49页 * DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 20007-11