简易频率特性测试仪最终解析方案.docVIP

PAGE / NUMPAGES 2018年全国大学生电子设计竞赛 简易频率特性测试仪E） 2018年9月7日 摘 要 该频率特性测量仪采用DDS控制核心外加乘法电路、滤波电路、AD转换电路、以及测量电路。主要由正交扫频信号发生器、乘法器、低通滤波器、AD转换、显示等功能模块组成。在本系统中利用51单片机控制DDS芯片AD9854实现信号发生，从而达到输出频率、相位、幅度可控的正交扫频信号。然后，制作一个频率特性测试仪，用来测量产生的扫频信号的有关信息，并正确显示。为了了解检测电路的特性，最后做一个RLC被测网络。使用测量电路测量被测网络的有关电器参数，同时可以通过对电路优化来提高该测量仪的测量精度。 关键字：DDS AD9854 正交扫频 目录 TOC \o 1-3 \h \z \u 1系统方案1 1.1 正交扫频信号源的论证与选择1 1.2 相频特性的论证与选择2 1.3 幅频特性的论证与选择3 2系统理论分析与计算4 2.1 系统总体方案的分析4 2.1.1 采用DSP方式4 2.1.2 直接利用已有信号源给系统，比较输入输出5 2.2有关零中频原理的计算5 3电路与程序设计6 3.1电路的设计6 3.1.1系统总体框图6 3.1.2 扫频信号子系统框图与电路原理图7 3.2程序的设计8 3.2.1程序功能描述与设计思路8 3.2.2程序流程图9 4测试方案与测试结果10 附录1：电路原理图11 附录2：源程序12 参考文献17 简易频率特性测试仪E题） 【本科组】 1系统方案 本系统主要由信号发生器模块、乘法电路模块、解调模块、显示测量模块组成，下面分别论证这几个模块的选择。 1.1 正交扫频信号源的论证与选择 方案一：单片函数发生器 利用单片函数发生器配合外部分立元件输出频率，通过调整外部元件可改变输出频率。缺点：发生器输出频率稳定度差、精度低、抗干扰能力低、灵活性差，成本也高。 方案二：锁相环频率合成技术 图1.1PPL原理图 通过改变程序分频器的分频比，则可改变压控振荡器的输出频率fo，从而获得大量可供利用的频率稳定度等同于参考频率的频率点，这里输出频率fo只能以参考频率fr为步长进行变化。缺点：现有集成PLL的VCO一般都产生方波，而不是正弦波，而且在不改变VCO电容的情况下，要达到1MHZ～40MHZ的频率范围有很大困难，所以我们不予采用。 方案三：DDS产生编程控制的信号源 图1.2.DDS原理图 将输出波形的一个完整周期幅度值按相位步进顺序量化存储于 EEPROM 中，利用相位累加技术生成地址查询高速存储器中存储的波形幅值，再以均匀速率把这些样本输出到数模转换器变换成模拟信号，由一个周期输出样本个数决定输出频率的大小。缺点： DDS可以高精度与高纯度的频率信号，理论上只要累加器的位数足够多，可以实现任意小的频率步进。频率分辨率很高，离散输出已十分接近连续变化。对相位累加器预置累加初值可以很方便地实现精密相位调节。 综合以上三种方案，选择方案三。 1.2 相频特性的论证与选择 方案一：积分法 将异或鉴相器的异或输出脉冲送至积分器积分，当积分电压达到一定值时再通过一个回路放电，并测量充放电的时间T1，T2。根据其比值算出其相位差。缺点：这种方案测量精度高且与被测信号的频率关系不大，可以测量高频信号间的相位差。但这种方法对积分电路和充放电时间的要求较高，因此不采用。 方案二：计数法 将输入和输出信号分别经过过零比较器后对其输出方波进行异或操作。所得脉冲的占空比既能反映被测信号相位大小。测量异或脉冲的周期为T，假设其高点平时间为Th，给一个基准高频脉冲，T与Th内基准脉冲的数目分别为M、N，则信号的相位差则为ψ=(N/M*360°。该方案实现电路简单，易于ARM编程实现。 方案三：低通滤波器 将输入和输出信号分别经过过零比较器后对其输出方波进行异或操作。将此异或输出信号微分得到两个对应被测信号负向过零瞬间的尖脉冲，利用非饱和型高速双稳态电路被这两组负脉冲所触发，输出周期为T、宽度为TX的方波，若方波幅度为Ug，则此方波的平均值即直流分量可得。用低通滤波器将方波中的基波和谐波分量全部滤除后，输出电压即直流电压。上式中T为被测信号的周期，TX由两信号的相位差决定。TX与的关系为：。若A/D的量化单位取为Ug/3600,则A/D转换结果即为的度数。 最终我们选择方案三 1.3幅频特性的论证与选择 方案一：二极管峰值检测法 图1.3 二极管峰值检测电路图 由电压跟随器和二极管电路组成，其工作原理为：当输入电压正半周通过时，检波管导通，对电容C充电，使电容上的电压逐渐趋近于峰值电压。只要RC足够大，可以认为其输出的直流电压数值上十分接近于交流电压的峰值。而在其它时段电容C上的电压将对电阻R放电。利用检波二极管对