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新一代层叠封装（ PoP ）的发展趋势 2015-02-06 安靠上海 amkorsh 安靠科技是全球第二大半导体封装测试供应商，安靠中国即安靠封装测试（上海） 有限公司位于外高桥自贸区， 是中国领先的半导体封测企业之一。 安靠中国公众账号将为大家定期提供业内新闻与概况， 重要新闻与知识， 励志短文， 及大家和员工可能需要的其他信息。 林伟 ( 安靠封装测试 , 美国） 摘要 : 便携式移动设备是当今半导体集成电路行业的主要发展动力。 其对封装的挑战， 除电性能的提高外，还强调了小型化和薄型化。层叠封装 (PoP) 新的趋势，包括芯片尺寸增大，倒装技术应用， 超薄化， 等，进一步增加了控制封装翘曲的难度。 超薄封装的翘曲大小及方 向与芯片尺寸， 基板和塑封层厚度， 以及材料特性密切相关。 传统的通用封装方案已不再适 用，需要根据芯片设计及应用， 对封装设计， 材料等因素加以优化， 才能满足翘曲控制要求。另外， 基板变薄后， 来自不同供应商的基板可能出现不同的封装翘曲反应， 需要加强对基板设计公差及供应链的管控。 关键词  :  层叠封装  ; 穿塑孔  ;  裸芯片穿塑孔  ;  翘曲 ;  热膨胀系数 简介 当今半导体集成电路 （IC ）的新增长点， 已从传统的机算机及通讯产业转向便携式移动设备如智能手机， 平板电脑及新一代可穿戴设备。 集成电路封装技术也随之出现了新的趋势，以应对移动设备产品的特殊要求，如增加功能灵活性，提高电性能，薄化体积，降低成本和 快速面世，等。 层叠封装（ PoP, Package-on-Package, 见图 1 ）就是针对移动设备的 IC 封装而发展起 来的可用于系统集成的非常受欢迎的三维叠加技术之一。 PoP 由上下两层封装叠加而成，底 层封装与上层封装之间以及底层封装与母板（ Motherboard ）之间通过焊球阵列实现互连。 通常，系统公司分别购买底层封装元件和上层封装元件， 并在系统板组装过程中将它们焊接 在一起。 层叠封装的底层封装一般是基带元件， 或应用处理器等， 而上层封装可以是存储器 等。 同传统的三维芯片叠加技术相比， PoP 结构尺寸虽稍大，但系统公司可以拥有更多元件 供应商， 并且由于 PoP 底层和上层的元件都已经过封装测试， 良率有保障， 因此 PoP 的系统 集成既有供应链上的灵活性，也有成本控制的优势。事实证明， PoP为系统集成提供了低成 本的解决方案。 为了进一步利用 PoP 技术的优势，系统公司可以同芯片供应商与封装公司合作，对 底层或上层元件进一步集成， 以满足其产品需要。 如，基带芯片和应用处理器芯片可以集成 在 PoP 的底层封装里，等等。  PoP 随着集成度及电性能要求的进一步提高，以及超薄化的需求， 创新，开始进入新的一代。本文将介绍分析这一领域的最新发展趋势。  PoP封装技术也不断发展 1. 传统 PoP （Package on Package ） 封装技术的进一步超薄化使得封装翘曲成为一大问题。封装中使用了各种不同的材料， 如芯片，基板，塑封等，这些材料具有不同的热膨胀系数（ CTE， Coefficient of Thermal Expansion ）。当整个封装经历温度变化时，例如从封装过程时的高温降到室温，由于各种 材料的热膨胀系数不同，伸缩不一致，从而导致封装产生翘曲，图  2  简易地说明了这一原 理。当封装变薄后，钢性显著降低，更容易变形，使得翘曲显著加大。 图 2. 翘曲产生的原理 图 3. 翘曲导致封装焊接失败 过大的翘曲会使得 PoP 封装在表面焊接（ SMT）组装过程中，底层封装与母板之间，或 者底层和上层封装之间的焊锡球无法连接，出现开路，见图 3。 翘曲已成为影响 PoP 组装良率的关键因素。 超薄化的趋势使得翘曲问题更加突出， 成为 一个阻碍未来 PoP 薄化发展的瓶颈。 因此， 各种新的技术和材料不断出现， 用以降低封装的 翘曲。在这篇文章中，我们将介绍翘曲控制方面的发展趋势。文章更进一步从一组超薄 PoP 试验样品， 以及其它一些实际产品数据中， 分析探讨超薄后可能出现的翘曲大小， 以及超薄 封装所带来的相应的设计，材料，生产过程中可能出现的问题和挑战。 2 层叠封装（ PoP）的发展趋势 新一代层叠封装的发展趋势可以概括为： 1） IC 集成度进一步提高，芯片尺寸不断加大，芯片尺寸与封装尺寸比例不断提高，使得封装翘曲也随之增加。 （2） 对封装的电性能要求进一步提高，倒装芯片技术（ 传统的焊线（ wire bond）技术。更先进的则采用铜柱技术（  flip chip ）应用普及，已代替了 Copper Pillar ），以进一步缩 小焊点间距。 （3） 同一芯片针对不同应用及