透射式特征X射线测厚技术分析.pdfVIP

摘要 随着科学工程技术与社会化大生产的快速发展，社会化大生产对产品的质量和厚度 测量提出了更高的要求，这就促使科技人员利用先进的理论与检测技术，研制更高效， 准确的智能在线测厚仪器。目前国际、国内已经有许多类型的测厚设备，其中包括涡流 式测厚仪、电容传感器测厚仪、超声波测厚仪、激光测厚仪、同位素测厚仪、红外线测 厚仪、X射线测厚仪。人们利用这些测厚仪的优点，把测厚仪应用在不同的领域。 本文是研究一种对较薄物质能够进行精确测量的测厚仪。透射式特征X射线测厚利 用的是同位素测厚，放射源发出的射线轰击靶物质产生特征X射线，让特征x射线穿 过被测物质，记录穿过物质前后的粒子数，根据射线穿过物质时的衰减规律求出被测物 质的厚度。论文分以下几个部分介绍了透射式特征X射线测厚的研制过程： 1．介绍了特征X射线发生装置的设计和探测器的选择依据，包括放射性源和靶物 质的选择； ， 2．介绍了整套实验装置的组成； 3．X射线能量与厚度曲线实验研究； 4．数据获取处理硬件部分的设计，主要由数据获取处理模拟