纳米微粒分析.pptVIP

纳米材料基础与应用 * 4.1.2显微图象分析法 1981年，Gerd Binning、Heinrich Rohrer在IBM公司苏黎世实验室共同研制成功了第一台扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope，STM)，其发明人Binning 、Rohrer因此获得1986 年的诺贝尔物理奖，是所有诺贝尔奖中，颁奖时间与成就取得时间间隔最短的。 扫描探针显微镜是扫描隧道显微镜及在其基础上发展起来的各种新型探针显微镜（如原子力显微镜AFM，激光力显微镜LFM，磁力显微镜MFM等）的统称。 2. 扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM） 纳米材料基础与应用 * 4.1.2显微图象分析法 SPM与电子显微镜成像原理不同，它对纳米颗粒粒径观察是一种间接观察方法，不仅可以得二维图像，还可获得三维立体图像，它可以在真空、大气、甚至水中等不同环境下工作，对样品无损，是纳米材料研究最重要的研究工具。 它在纳米科技发展中占有重要的地位，它的应用贯穿到七个分支领域中，以其为分析和加工手段所做的工作占纳米科技研究工作的一半以上。。 2. 扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM） 纳米材料基础与应用 * 4.1.2显微图象分析法 三种纳米分辨率显微镜比较 扫描电子显微镜(SEM） 透射电子显微镜 (TE