哈工大微电子工艺07外延教材.pptVIP

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  • 2019-08-29 发布于湖北
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微电子工艺—薄膜技术(3) 第7章 外延 (Epitaxy) 第7章 外延 7.1 概述 7.2 硅气相外延原理及工艺 7.3 外延层中的杂质分布 7.4 外延方法 7.5 分子束外延 7.6 其它外延 7.7 外延层缺陷及检测 7.1 外延概述 在微电子工艺中,外延(epitaxy)是指在单晶衬底上,用物理的或化学的方法,按衬底晶向排列(生长)单晶膜的工艺过程。 新排列的晶体称为外延层,有外延层的硅片称为(硅)外延片。 与先前描述的单晶生长不同在于外延生长温度低于熔点许多 外延是在晶体上生长晶体,生长出的晶体的晶向与衬底晶向相同,掺杂类型、电阻率可不同。n/n+,n/p,GaAs/Si。 7.1.1 分类 按材料划分:同质外延和异质外延 按工艺方法划分:气相外延(VPE),液相外延(LVP),固相外延 (SPE),分子束外延(MBE) 按温度划分:高温外延--1000℃ 以上;低温外延--1000℃ 以下;变温外延--先低温下成核,再高温下生长外延层 按电阻率高低划分:正外延--低阻衬底上外延高阻层;反外延--高阻衬底上外延低阻层 其它划分方法:按结构划分;按外延层厚度划分等 7.1.2 特点 外延生长时掺入杂质的类型、浓度都可以与衬底不同,增加了微电子器件和电路工艺的灵活性。 多次外延工艺得到多层不同掺杂类型、不同杂质含量、不同厚度,甚至不同材料的外延层。 异质外延,如G

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