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实训十 门电路逻辑功能的测试 一、知识准备 1.逻辑集成电路简介 (1)TTL型逻辑集成电路 TTL逻辑集成电路的特点见表10.1所示。 74××系列集成电路所标注的各字符的含义为： (2)CMOS型逻辑集成电路 常用的CMOS逻辑集成电路的型号见表10.2所示。 2.两种门电路的逻辑功能 (1)非门的逻辑功能 非门电路的逻辑符号如图10.1所示。 (2)与非门的逻辑功能 与非门的逻辑符号如图10.2所示。 3.两种TTL集成门电路 (1)集成电路74LS04 74LS04是六非门集成电路，其外形和内部结构如图10.3所示。 (2)集成电路74LS00 74LS00是四二输入与非门集成电路，其外形和内部结构如图10.4所示。 图10.1 非门电路 图10.2 与非门电路 图10.3 74LS04的外形与内部结构 图10.4 74LS00的外形和内部结构 二、技能实训 1.实训内容 非门、与非门的逻辑功能测试。 2.实训目的 (1)熟悉TTL非门、与非门电路的逻辑功能和测试； (2)掌握常用TTL集成电路的使用方法； (3)熟悉TTL非门、与非门电路的应用。 3.实训器材 实训器材见表10.3所示。 4.实训步骤 (1)非门的逻辑功能测试 ①选用集成电路74LS04的一个非门电路，万用表选直流电压10 V挡，在逻辑实验仪(或数字实验箱)上连接好如图10.5所示