X射线荧光光谱分析讲课稿(2008).pptVIP

X 射线荧光光谱分析 X射线简介 X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射，波段在10-3-10nm。 ???特征光谱的产生 高能量粒子与原子碰撞，将内层电子逐出，产生空穴, 此空穴由外层电子跃入，同时释放出能量，就产生具有特征波长的特征光谱。 特征X射线线系  特征X射线线系  莫斯莱定律 早在1913年，英国年青的物理学家莫斯莱(Moseley)就详细研究了不同元素的特征X射线谱,依据实验结果确立了原子序数Z与X射线波长之间的关系。这就是莫斯莱定律 ： 布拉格方程 2d sinθ= nλ X射线荧光光谱分析的特点 ? 分析元素范围广 Be — U X射线荧光光谱的应用 广泛应用于地质、冶金、矿山、电子机械、石油、化工、航空航天材料、农业、生态环境、建筑材料、商检等领域的材料化学成分分析。 仪器主要性能指标 5 准直器 (Collimators) 7 检测器 (Detector) 通常用作测量X射线的探测器具有如下特点： 1 在所测量的能量范围内具有较高的探测效率，如在波长色散谱仪中用流气式正比计数器测定超轻元素时，入射窗的窗膜应尽可能用1um或更薄的膜，减少射线的吸收。 2 具有良好的能量线性和能量分辨率。 3 具有较高的信噪比，要求暗电流小，本底计数