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第二章 测量技术基础 第四节 测量误差 令z= δ/ σ，dz=d δ/ σ P=2 Φ（z） +z 0 z2 拉普拉斯（Laplace）函数 当z=1时， δ=± σ， Φ（z）=0.03413， P=0.06826=68.25% 当z=2时， δ=± 2σ， Φ（z）=0.04772， P=0.09544=95.44% 当z=3时， δ=± 3σ， Φ（z）=0.049865，P=0.09973=99.73% 当z=4时， δ=± 4σ， Φ（z）=0.04997， P=0.0999=99.99% 第二章 测量技术基础 第四节 测量误差 （一）随机误差 4、极限误差的确定 通过计算，随机误差在±3σ范围内出现的概率（可信度——置信概率）为99.73%，已接近100%，所以一般以±3σ作为随机误差的极限误差。 单次测量结果为： X=x i ± δlin=x i ±3σ 三、测量误差的种类和特性 第二章 测量技术基础 第四节 测量误差 （二）系统误差 系统误差——指在一定测量条件下，多次测量同一量时，误差的大小和符号均不变或按一定规律变化的误差，称为系统误差。 定（常）值系统误差 变值系统误差 变值系统误差按变化规律的不同分为： 1线性变化的系统误差——误差成比例增大或减少的误差。 2周期变化的系统误差——随测量值或时间的变化呈周期性变化的误差。 3复杂变化的系统误差——按复杂函数变化或按实验得到的曲线图变化的误差。 三、测量误差的种类和特性 第二章 测量技术基础 第四节 测量误差 三、测量误差的种类和特性 （三）粗大误差（也叫过失误差） 是指超出了在一定条件下可能出现的误差。对测量结果产生明显歪曲，为异常值 。 它的产生是由于测量时疏忽大意（如读数错误、计算错误等）或环境条件的突变（冲击、振动等）而造成的某些较大的误差。 在处理数据时，必须按一定的准则从测量数据中剔除 第二章 测量技术基础 第四节 测量误差 四.测量精度分类 正确度——反映测量结果受系统误差的影响程度，系统误差小，正确度高； 精密度——反映测量结果受随机误差的影响程度。指在一定测量条件下连 续多次测量所得的测量值之间相互接近的程度。随机误差小， 精密度高。 准确度——反映测量结果同时受系统误差和随机误差的综合影响程度。系 统误差和随机误差都小，准确度高。 a)精密度高，正确度低 b)正确度高，精密度低 c)准确度高 第二章 测量技术基础 第五节 直接测量列的数据处理 测量列——对某一被测几何量进行连续多次的重复测量，得到的一系列测量数据。 一、测量列中随机误差的处理 （一）测量列的算术平均值 1）采用多次（一般为5-15次）重复测量，减少随机误差的影响。 2）取多次测量的算术平均值作为测量结果，以提高测量精度。 残余误差 第二章 测量技术基础 第五节 直接测量列的数据处理 一、测量列中随机误差的处理 （一）测量列的算术平均值 （二）测量列中任一测得值的标准偏差σ （三）测量列算术平均值的标准偏差 （四）测量结果为 第二章 测量技术基础 第五节 直接测量列的数据处理 一、测量列中随机误差的处理 第二章 测量技术基础 第五节 直接测量列的数据处理 例：对一轴进行10次测量，其测得值列表如下，求测量结果。 第二章 测量技术基础 第五节 直接测量列的数据处理 二、测量列中系统误差的处理 系统误差以一定的规律对测量结果产生较显著的影响，因此，分析处理系统误差的关键，首先在于发现系统误差，进而设法消除或减少系统误差，以便有效地提高测量精度。 （一）系统误差的发现 目前还无找到可以发现各种系统误差的方法，只介绍适用于发现某些系统误差的两种方法。 （1）实验对比法 通过改变产生系统误差的测量条件，进行不同测量条件下的测量来发现系统误差。适于发现定值系统误差。 （2）残差观察法 根据测量列的各个残差大小和符号的变化规律，直接由残差数据或残差曲线图形来判断有无系统误差，主要适用于发现大小和符号按一定规律变化的变值系统误差。 第二章 测量技术基础 第五节 直接测量列的数据处理 二、测量列中系统误差的处理 （一）系统误差的发现 （二）系统误差的消除 系统误差可以用以下方法消除或减少 1、从产生的误差根源上消除 2、用加修正值的方法消除 3、用两次读数方法消除 4、用对称法消除 5、用半波法消除 第二章 测量技术基础 第五节 直接测量列的数据处理 三、测量列中粗大误差的处理 多大的误差才算是粗大误差，有各种判断准则。 拉依达准则（3 σ准则） 第二章 测量技术基础 第五节 直接测量列的数据处理 四、直接