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光化学原理与应用-3 CPU 芯片 近十年,Intel CPU的布线宽度经历了180nm,130nm,90nm,65nm,45nm这几个阶段 电路板 光化学加工与光刻 光刻(photoetching)是通过一系列生产步骤将晶圆表面薄膜的特定部分除去的工艺。在此之后,晶圆表面会留下带有微图形结构的薄膜。被除去的部分可能形状是薄膜内的孔或是残留的岛状部分。 光刻工艺:硅片表面清洗烘干、涂底、旋涂光刻胶、软烘、对准曝光、后烘、显影、硬烘、刻蚀、检测等工序。 一般旋涂光刻胶的厚度与曝光的光源波长有关(因为不同级别的曝光波长对应不同的光刻胶种类和分辨率):I-line最厚,约0.7~3μm;KrF的厚度约0.4~0.9μm;ArF的厚度约0.2~0.5μm。 一种光刻胶 聚甲基丙烯酸.1,4-二氧螺环[4,4]一2一甲醇酯 曝光方法 a、接触式曝光(Contact Printing)。掩膜板直接与光刻胶层接触。曝光出来的图形与掩膜板上的图形分辨率相当,设备简单。1970前使用,分辨率 0.5μm。 掩膜版和硅片直接接触,掩膜版 寿命短 b、接近式曝光(Proximity Printing)。掩膜板与光刻胶层的略微分开,大约为10~50μm。1970后使用,但是其最大分辨率仅为2~4μm。 c、投影式曝光(Projection Printing)。在掩膜板与光刻胶之间使用透镜聚集光实现曝光。一般掩膜板的尺寸会以需要转移图形的4倍制作。优点:提高了分辨率;掩膜板的制作更加容易; 投影式曝光分类 扫描投影曝光: 70年代末~80年代初,1μm工艺;掩膜板1:1,全尺寸; 步进重复投影曝光: 80年代末~90年代,0.35 μm(I line)~0.25μm(DUV)。掩膜板缩小比例(4:1),曝光区域(Exposure Field)22×22mm(一次曝光所能覆盖的区域)。 扫描步进投影曝光: 90年代末~至今,用于≤0.18μm工艺。采用6英寸的掩膜板按照4:1的比例曝光,曝光区域(Exposure Field)26×33 mm。优点:增大了每次曝光的视场;提供硅片表面不平整的补偿;提高整个硅片的尺寸均匀性。 0.18μm的CMOS扫描步进光刻工艺 光源:KrF氟化氪DUV光源(248nm); 数值孔径NA:0.6~0.7; 焦深DOF:0.7μm; 分辨率Resolution:0.18~0.25μm(一般采用了偏轴照明OAI_Off-Axis Illumination和相移掩膜板技术PSM_Phase Shift Mask增强); 套刻精度Overlay:65nm; 产能Throughput:30~60 wafers/hour(200mm); 视场尺寸Field Size:25×32 mm; 显影(Development) 显影液: a、正性光刻胶的显影液。正胶的显影液为碱性水溶液。KOH和NaOH因为会带来可动离子污染(MIC,Movable Ion Contamination),所以在IC制造中一般不用。最普通的正胶显影液是四甲基氢氧化铵(TMAH)(标准当量浓度为0.26,温度15~25 oC)。在I线光刻胶曝光中会生成羧酸,TMAH显影液中的碱与酸中和使曝光的光刻胶溶解于显影液,而未曝光的光刻胶没有影响; b、负性光刻胶的显影液。二甲苯。清洗液为乙酸丁酯或乙醇、三氯乙烯。 光合作用 呼吸作用 光合作用 光合作用中的集光复合体(能量转移) 光谱拓宽(植物中的叶黄素) 天线复合物LHC-II结构 叶黄素吸收400-500nm区间的光,将能量转移给叶绿素a. 光合作用中的电子转移(H的产生) 电子传递中的电势差(ATP的产生) 光致能量转移、电子转移应用 红色荧光粉材料Gd1-xEuxAl3(BO3)4 FRET能量转移 根据FRET的效率,判断生物分子相互作用的情况。 染料敏化太阳能电池 彩色胶卷 Dye+ AgX ? Dye+ + Ag0 + X-
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