固体光谱学 第二章 反射光谱与光学常数的测量.pptVIP

(2.69) (2.70) 固有频率ω0ω，根据Lorentz理论，代表束缚作用力-mω02 ， 和阻尼作用力-mγ ，可以忽略不计。在这种情况下，等离子体 振荡决定了介电函数的实部，在介电函数的虚部中不包含与ω3反 比项，即在一级近似下，可将介电函数的虚部εi(ω)作为0级小量 处理 。 因此，在高频下主宰体系的光学响应，不是与位移 成正比 的束缚力，也非与速度 /dt 成正比的阴尼力，而是与体系 的总电子数 [见式(1.41)]有关的惯性作用。 在高频下 (2.71a) (2.71b) 结合介电响应函数在高频下的渐近行为(2.69)和(2.70)式，并 取一级近似，可以得到介电响应函数的求和法则 (2.72a) (2.72b) (2.72c) 其中式(2.72a)也叫做振子强度(f)求和法则，式(2.72b)和(2.72c) 叫做惯性求和法则，式(2.72b)适合于半导体和绝缘体的束缚 电子，式(2.72c)适应于金属中的自由电子。振子强度求和法 则也叫做耗散求和法则。 如果体系有 j 种谐振子参与某一光学过程，其谐振子强 度可以表示为 (2.73) 定义：neff 为每个原子在光学过程中实际参与的有效电子数， 已知：材料的原子量和密度分别为M和ρ，则参与不学过程 的电子密度 从振子强度求和法则可以得到参与光学过程的有效电子数为 (2.74) 图2.14表示 Si、Ge和Al的效电子数与光子能量的关系。 同理，可以导出折射率及其它光学响应函数的求和法则： (2.75a) (2.75b) (2.76) (2.77) 由KK关系可以直接得到计算态（ω→）光学常数的方法。 由(2.53),令ω=0，得 作为比较，表2.1给出某些材料的带隙与静态介电常数。 表2.1 室温下某些材料的禁带宽度与静态介电常数 (2.78) 材料 带隙Eg(eV) 静态介电数 Si Ge PbS PbSe 1.11 0.67 0.37 0.26 11.7 16.3 170 250 2.6.2 低频下的求和法则 静态折射率可以表示为 (2.79) 图2.9表示椭圆偏光度法的实验装置框图。 转动检偏器的方位角，使其达到消光状态，此时的方位角J就是? 当 时, = 900 P轴（平行分量） zo ze 450 450 非寻常光与寻常光的位相差 ， 当 时, 寻常光与非寻常光之间的位相差为90°。 转动检偏器的方位角，使其达到消光状态，这时检偏振器的 方位角 J 就是 Ψ。设起偏器的方位角为 Q，可以得到 Ψ = J (2.27) 这里 Ψ 的读数范围：0-90°，Δ的范围：0-360°。 图2.10表示生长在硅衬底上的类金刚石膜（DLC膜，a-C:H） 的折射率与厚度的椭偏光度法测量结果。 n-C0 d-C0 凡是由因果关系决定的光学响应函数，其实部和虚部 之间并不完全独立，由此得出一系列关系式描述光学常数 之间的内在联系，这些关系被称为克喇末-克朗尼格（ Kramas-Kronig）关系，简称KK关系。 2.4.1 光学响应函数及其性质 KK关系的物理基础是因果性原理，其内函是物理结果 只能发生在作用之后，而不是在其前。在常用光强范围内， 可以假定极化响应是线性的，即 (2.28) 2.4 克喇末(Kramas-Kronig)-克朗尼格（KK）变换 ， 的傅里叶(Fourier)成分 ， ，具有相同的光 学响应规律。令 表示在主轴方向的极化分量, 它是时间的 函数， 表示与 相同方向上 的分量 ，上述因果关 系可以表示为 (2.29) 上式的意思是 与 t 时刻之前所有的 有关。 一般地说，一个广义作用力 引起的广义位移 ， 由以下运动方程决定 我们来讨论