第六章固体结构和性质讲述.pptVIP

* 光电子发射谱可以直接研究价带(包括表面态)的能态密度。 式中,为电子的结台能或电离能，即使物质产生光电离所需能量，随样品而异。 因为处于轨道运动的电子能级是量子化的，故样品中原子的各能级发射 的光电子的动能是不连续的。通过能量分析器把不同能量的光电子分别计数，就可以得到分立的且强度各异的谱峰，或具有特征形状的谱带。这种将光电子按能量分散描述的图谱就是光电子能谱图，描述的是关系曲线。由式(3-10)可知 、电子的动能与电子的结合能有着一一对应的关系，因此光电子能谱通常用来标度，表示为关系曲线。通过结合能的计算及变化规律的研究，可以了解被测样品表面的成分、结构等信息。这就是光电子能谱分析的基本原理。 以X射线为光电子能谱的激发源，得到的能谱称为X射线光电子能谱。X射线固然有较强的穿透能力，然而，从固体内部出射的具有特征能量的光电子，一般仅仅涉及表面几个原子层，这就是光电子能谱仪作为有效的表面分析工具的依据，和俄歇电子出射的道理是—样的。x射线光电子能谱可以用于元素定性分析。通过对样品进行全扫描，在一次测定中即可检出全部或大部分元素。不同的元素有不同的特征电子结合能，在谱图中的不同位置出现特征谱线。由于在一定条件下光电子能谱特征谱线谱峰强度与其元素含量成正比，因而可将实测光电子谱图中的谱峰与标准样品谱峰相比教进行定量分析，精确度可达1％－2％。 当原子或分子结合成为固体时，外层电子能级变成能带结构。固体价带中电子状态的能量分布由能态密度 来表示。发射的光电子能量分布可以看作是价带中能态密度分布(包括满带的表面态)的一个复制品，所以光电子发射谱可以直接研究价带(包括表面态)的能态密度。 X射线光电子能谱法是一种表面分析方法．以表面元素定性分析、定量分析、表面化学结构分析等基本应用为基础．可以广泛应用于表面科学与工程领域的分析、研究工作，如表面氧化(硅片氧化层厚度的测定等)、表面涂层、表面催化机理等的研究，表面能带结构分析(半导体能带结构测定等)以及高聚物的摩擦带电现象分析等． * 金属：电导率随温度升高而下降 半导体：电导率随温度升高而升高 超导体：某温度以下，无电阻 如果能带未完全充满, 接近Fermi面的电子则易于被提至附近的空能级, 从而可以相对自由地在固体中运动, 这种物质就是电导体。金属型导电的判据就是电导率随温度升高而下降。 其原因可认为是剧烈振动的分子等价于扰乱轨道秩序的一种杂质, 这种扰乱削弱了电子从固体一端流向另一端的能力, 所以T 0 K时的电导率小于T = 0 K时的电导率。如果把电子看作固体中传播的一种波, 也可以说电子波被“杂质” (即原子振动) 所“散射”, 这种载流子散射随温度上升而增大, 因为晶格振动随温度升高加剧。 * 处于固体中某个特定区域的第一个电子会把附近的原子核拖向自己，从而产生了局部的畸变结构， 由于这种局部畸变相对集中了正电荷， 从而有利于第二个电子与第一个电子配对。 * 缺陷的重要性在于它能影响固体的性质， 如机械强度、导电性、 耐腐蚀性和化学反应特性等。 * 缺陷的重要性在于它能影响固体的性质， 如机械强度、导电性、 耐腐蚀性和化学反应特性等。 * Schottky缺陷: 完整晶体晶格中出现空位而造成的缺陷， 晶格中某些原子或离子从原来正常的位置上消失，阴离子和阳离子的空位数相等，维持了电荷平衡, Schottky缺陷的存在不影响整个固体的化学计量。 Frenkel缺陷: 由原子或离子移至结构的间隙位置造成的，如AgCl的岩盐结构中有少量的Ag+ 离子处在通常不被占据的正四面体的中心位置上。Frenkel缺陷的形成也不改变化合物的化学计量比 * 点缺陷的检测：例如对数千?范围内的固体进行扫描探测时， x-射线衍射法如此小的随机偏差容易被忽略。有时可以通过样品密度的测量值与计算值之差推断数量可观的空位或过量原子的存在。 如果属于空位缺陷(Schottky缺陷) ，测得的密度应该低于每个Ti和O的位置假设都被占据的条件下, 按元晶胞大小求得的计算值， 如果属于填隙缺陷(Frenkel缺陷), 则很难观测到测量值与理论值之间的差别。 * (a) 每个Re原子处在O原子的八面体配位环境中, (b) 垂直于纸面平面上的氧原子被移走, 留下两个金属原子面, 面上的金属原子缺少一个氧原子配位体, (c) 缺少一个氧原子配位体的金属面通过右部一块的平移而得以恢复, 从而产生了一个垂直于纸面的平面, 面上的MO6八面体相互共用棱边. * 掺有CaO的ZrO2电解质在汽车废气处理装置中用作氧分压的固体电化学传感器。 * 值得注意的是简单的配位场稳定化作用只对上述有限范围的阳离子才有效。引入半径不同的阳离子时必须进行更详尽的分析，λ值还与温度有关。 含A2+和B3+的尖晶石中阳离