原位微区X射线荧光光谱分析装置与技术研究进展-岩矿测试.pdf

２０１１年６月 岩　矿　测　试 Ｖｏｌ．３０，Ｎｏ．３ Ｊｕｎｅ２０１１ ＲＯＣＫＡＮＤＭＩＮＥＲＡＬＡＮＡＬＹＳＩＳ ３７５～３８３ 文章编号：０２５４ ５３５７（２０１１）０３ ０３７５ ０９ 原位微区Ｘ射线荧光光谱分析装置与技术研究进展 许　涛，罗立强 （国家地质实验测试中心，北京　１０００３７） 摘要：原位微区Ｘ射线荧光（Ｍｉｃｒｏ－ＸＲＦ）光谱分析技术是Ｘ射线光谱学领域一重要分支。近年来Ｘ射线毛细 管光学透镜聚焦技术不断进步，以实验室Ｘ光源为基础的原位微区Ｘ射线光谱分析装置与应用技术快速发展， 已成功应用于多领域样品的原位、多维、动态和非破坏性微区分析。文章介绍了近年来Ｘ射线毛细管光学透镜 技术发展和原位微区Ｘ射线光谱分析装置研制进展，对近年来ｍｉｃｒｏ－ＸＲＦ光谱分析技术在大气气溶胶颗粒物 分析与来源识别、考古样品产地和真伪鉴别、古气候古环境重建研究中沉积纹层样品元素分析，以及刑侦科学中 指纹样品的鉴定等应用领域进行了系统介绍，阐述了ｍｉｃｒｏ－ＸＲＦ光谱分析技术性能的影响因素（空间分辨率和 强度增益）。ｍｉｃｒｏ－ＸＲＦ光谱分析技术不仅可以获取样品表