数字电路软错误防护方法研究.docVIP

PAGE PAGE 1 数字电路软错误防护方法研究 　　摘要本文针对数字电路制造工艺的改进所带来的电路可靠性降低、软错误率增高这一问题，从数字电路中软错误类型的角度分析，软错误包括时序逻辑电路中的软错误和组合逻辑中的软错误，从数字电路软错误防护方法的角度分析，介绍了几种行之有效的防护技术，阐明了这几种软错误防护技术的应用原理及应用效果。 　　关键词数字电路；软错误；防护；方法 　　中图分类号：TN79文献标识码：A文章编号：1671—7597（2013）021-083-01 　　随着纳米时代的到来，数字电路的制造工艺不断改革与创新，但是，革新与挑战是并存的。目前，数字电路的设计制造面临着诸多挑战，其中一项就是在达到设计标准的前提下，如何能使设计制造的电路可靠运行。 　　增强数字电路可靠性的方法主要是容错技术的使用，这种技术的应用是为了保证数字电路的功能不受到影响或者所受的影响最低。其原理是增加冗余资源，有效降低因故障所造成的影响。但随着工艺尺寸的改进，运用环境的变化以及海拔高度的改变，数字电路软错误率也随之受到影响，软错误率的升高严重影响了集成电路的可靠性，集成电路的可靠性又直接决定了计算机系统的可靠性，因此，数字电路软错误防护方法的研究逐渐成为研究热点。 　　1数字电路中软错误的类型 　　1）时序逻辑电路中的软错误。随着集成电路特征尺寸的缩小，工艺扰动问题日益严重，受工艺