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第三章 光电检测器件 光电器件的类型与特点 光电器件的基本特性参数 半导体光电器件 光电导器件—光敏电阻 光伏器件 光电池 光电二极管/三极管 真空光电器件 光电管 光电倍增管 热电检测器件 热敏电阻 热电偶和热电堆 热释电探测器件 3.1 光电器件的类型与特点 光电效应：光照射到物体表面上使物体的电学特性发生变化． 光电子发射：物体受光照后向外发射电子——多发生于金属和金属氧化物． 光电导效应：半导体受光照后，内部产生光生载流子，使半导体中载流子数显著增加而电阻减少． 光生伏特效应：光照在半导体PN结或金属—半导体接触上时，会在PN结或金属—半导体接触的两侧产生光生电动势。 光电检测器件的类型 光电检测器件是利用物质的光电效应把光信号转换成电信号的器件. 光电检测器件分为两大类: 光子(光电子)检测器件:响应波长有选择性，器件都存在λ。，响应快，纳秒级。 热电检测器件：响应波长无选择性，响应慢。 光电检测器件 光电检测器件的特点 3.2 器件的基本特性参数 响应特性 噪声特性 量子效率 线性度 工作温度 一、响应特性 １．响应度（或称灵敏度）：是光电探测器输出信号与输入光功率之间关系的度量。描述的是光电探测器件的光电转换效率。 响应度是随入射光波长变化而变化的 响应度分电压响应率和电流响应率 电压响应率 光电探测器件输出电压与入射光功率之比 电流响应率 光电探测器件输出电流与入射光功率之比 探测器的输出信号电压/探测器接收的所有波长光的总辐射通量 探测器输出的信号电流/探测器接收的所有波长光的总辐射通量 ２．光谱响应度：探测器在波长为λ的单色光照射下，输出电压或电流与入射的单色光功率之比． ３．积分响应度：检测器件对各种波长光连续辐射量的反应程度．总光通量 输出光电流; 积分响应度；S = /? ４．响应时间：响应时间τ是描述光电探测器对入射光响应快慢的一个参数. 上升时间：入射光照射到光电探测器后，光电探测器输出上升到稳定值所需要的时间。 下降时间：入射光遮断后，光电探测器输出下降到稳定值所需要的时间。 二、噪声特性 在一定波长的光照下光电探测器输出的电信号并不是平直的，而是在平均值上下随机地起伏，它实质上就是物理量围绕其平均值的涨落现象。 噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。 由于噪声总是与有用信号混在一起，因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。 一个光电探测系统的极限探测能力往往受探测系统的噪声所限制。 所以在精密测量、通信、自动控制等领域，减小和消除噪声是十分重要的问题。 光电探测器常见的噪声 特点：随机，不可预测； 统计平均值为0。 表征：均方值（方均值）表述 噪声特性： 与频率相关； or 与频率无关-白噪声。 热噪声 散粒噪声 产生-复合噪声 1/f噪声 1、热噪声 或称约翰逊噪声，即载流子无规则的热运动造成的噪声。 导体或半导体中每一电子都携带着电子电量作随机运动(相当于微电脉冲)，尽管其平均值为零，但瞬时电流扰动在导体两端会产生一个均方根电压，称为热噪声电压。 热噪声存在于任何电阻中，热噪声与温度成正比，与频率无关，热噪声又称为白噪声 2、散粒噪声 散粒噪声：入射到光探测器表面的光子是随机的，光电子从光电阴极表面逸出是随机的，PN结中通过结区的载流子数也是随机的。 散粒噪声也是白噪声，与频率无关。 散粒噪声是光电探测器的固有特性，对大多数光电探测器的研究表明：散粒噪声具有支配地位。 例如光伏器件的PN结势垒是产生散粒噪声的主要原因。 3、产生-复合噪声 半导体受光照，载流子不断产生-复合。 在平衡状态时，在载流子产生和复合的平均数是一定的 但在某一瞬间载流子的产生数和复合数是有起伏的。 载流子浓度的起伏引起半导体电导率的起伏。 不是白噪声，只有频率很低时才会成为白噪声。 4、1/f噪声 或称闪烁噪声或低频噪声。 噪声的功率近似与频率成反比 多数器件的1/f噪声在200~300Hz以上已衰减到可忽略不计。 当一些参数不变时噪声与1/f成正比，频率越低噪声越大，不是白噪声，而属于红噪声，相当于白光中的红光部分。 2、等效噪声输入（ENI） 定义为；器件在特定带宽内（1Hz）产生的均方根信号电流恰好等于均方根噪声电流值时的输入通量。 在确定光电探测器探测极限时使用。 3、噪声等效功率(NEP) . 如果探测器所接收到的辐射功率所引起的信号输出，正好等于探测器本身产生的噪声，则探测器此时所接收到的辐射功率称为等效噪声功率又称为最小可探测功率。 定义：信号功率与噪声功率比为1（SNR=1）时，入射到探测器件上的辐射通量(单位为瓦)