集显微镜·SEM·粗糙度仪的功能于一身.pdfVIP

全新 形狀測量雷射顯微鏡 VK-X100/X200 系列 集顯微鏡· SEM · 粗糙度儀的功能於一身 形狀量測雷射顯微鏡登場 1 臺機器便可實現全功能覆蓋性的 解析度觀察和豐富的形狀量測。 全新 形狀量測雷射顯微鏡 VK-X100/X200 2 光學顯微鏡 SEM 粗糙度儀 提昇倍率後，焦點對不齊，解析度 前處理或樣品尺寸等的準備煩瑣， 不能夠實現一邊放大觀察，一邊 不足。 僅能以黑白色進行觀察。 對目標部位實施非破壞性的凹凸 測量。 使用雷射顯微鏡則可全部簡單地實現 全新 2 項新功能 廣角視野 WIDE-Scan “高倍率下不太清楚” 對於提昇倍率後視野變窄的問題，由兼顧高速· 高精度的圖像連接WIDE-Scan 加以解決。 全自動量測 簡 單 AI-Scan 僅需按一下 “誰都可以實現相同的量測” 積累了KEYENCE 豐富拍攝經驗的AI-Scan 做到了僅需按一下量測開始按鈕，便可實現全自動 量測。 3 雷射掃描顯微鏡可以解決所有的課題 傳統設備的常見問題 光學顯微鏡 1 解析度和放大倍率有限 2 景深較淺 3 不支援可溯性 凹陷（6000 倍） 刀刃邊緣（1000 倍） SEM 1 無法辨別色彩的黑白影像 2 準備工作和觀察耗費時間 3 受限於樣品尺寸 準備工作 樣品處理 沉積 放到觀察台 約 20 分鐘 觀察 啟動 真空處理 觀察 約 25 分鐘 有時候因樣品尺寸而無法放入樣品室進行觀察 墨粉（1000 倍） 粗糙度儀 1 接觸式量測易導致樣品損傷 2 難以量測所需目標 3 解析度受針尖直徑的限制 接觸式表面粗糙度量測儀