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日立S4800扫描电子显微镜
葛泳
2012.6.29
一、日立S-4800的基本原理和结构
二、日立S-4800的操作和应用技术
三、日立S-4800的基本维护
电子显微镜的历史
1932年鲁斯卡发明创制了第一台透射电子显微镜实验装置(TEM)。
1965 年英国剑桥仪器公司生产第一台商品扫描电镜,之后与X射线分析系统(EDS、WDS) 结合,形成各种不同分析型电子显微镜。
1986年,宾尼格和罗雷尔先后研制成功扫描隧道电子显微镜(STM)和原于力电子显微镜(AFM),使人类的视野得到进一步的扩展。
1.日立S4800的基本原理和结构
入射电子束在样品中激发出的各种信号
1 日立S-4800的基本原理和结构
SE的激发原理
二次电子(SE)是指被入射电子轰击出来的核外电子。携带有样品的表面形貌信息,通常来自样品表面5-50 nm的区域,能量为0-50 eV。
由于它发自试样表面层,入射电子还没有较多次散射,因此产生二次电子的面积与入射电子的照射面积没多大区别。所以二次电子的分辨率较高,一般可达到50-100 Å。
扫描电子显微镜的分辨率通常就是二次电子分辨率。二次电子产额随原于序数的变化不明显,它主要取决于表面形貌。
1 日立S-4800的基本原理和结构
BSE的激发原理
背散射电子是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子.从数量上看,弹性背散射电子远比非弹性背散射电子所占的份额多。背散射电子能量在数千到数万电子伏。
背散射电子的产生范围在1000 Å到1 μm深,由于背散射电子的产额随原子序数的增加而增加,所以,利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征,也可用来显示原子序数衬度,定性地进行成分分析。
1 日立S-4800的基本原理和结构
SE和BSE的电子能量幅度
1 日立S-4800的基本原理和结构
SE图像
BSE图像
1 日立S-4800的基本原理和结构
Al合金的背散射电子图像
1 日立S-4800的基本原理和结构
日立S-4800冷场发射扫描电镜的外观
样品仓
冷阱
电子枪
离子泵
样品交换仓
轨迹球
显示单元
控制板
能谱仪
1 日立S-4800的基本原理和结构
分子泵+机械泵
1 日立S-4800的基本原理和结构
发卡式钨灯丝
(热电子发射电子枪 )
冷场发射灯丝
(冷场发射电子枪)
扫描电镜的电子束激发源
1 日立S-4800的基本原理和结构
扫描电镜的电子束激发源
1 日立S-4800的基本原理和结构
扫描电镜的电子束激发源
1 日立S-4800的基本原理和结构
不同类型物镜对样品尺寸的影响
1 日立S-4800的基本原理和结构
放大倍数的计算方式
1 日立S-4800的基本原理和结构
通过电场力和磁场力平衡入射电子束
1 日立S-4800的基本原理和结构
1 日立S-4800的基本原理和结构
电场力和磁场力偏转二次电子信号
1 日立S-4800的基本原理和结构
S4800可侦测信号
1 日立S-4800的基本原理和结构
SE
SE+BSE
1 日立S-4800的基本原理和结构
BSE
BSE+SE
1 日立S-4800的基本原理和结构
SE(U)
SE(U,LA0)
SE(U,HA)
SE(U,LA100)
1 日立S-4800的基本原理和结构
日立S-4800 Super EXB各种模式的信号接收量
一、日立S-4800的基本原理和结构
二、日立S-4800的操作和应用技术
三、日立S-4800的基本维护
2 日立S-4800的操作和应用技术
如何获得更高分辨率的图像??
1.降低透镜的球像差以获得小的电子束斑尺寸
2.提高电子枪的亮度
3.提高对成像信息的接收效率
4.提高样品室的清洁真空度
5.尽量减小外界振动干扰
6.计算机控制调节图像的质量
2 日立S-4800的操作和应用技术
2.1 样品制备的注意事项;
2.2 扫描电镜最基本的操作:调焦消像散,对中;
2.3 下列参数选择对图像的影响:加速电压,工作距离,上下探头的选择;
2.4 荷电的产生原因及解决方法;
2.5 污染的产生原因及避免方法;
2.6日立S-4800的STEM附件
2.7 减速模式介绍。
主要内容
2 日立S-4800的操作和应用技术
1、粉末样品必须粘牢在样品台上(使用导电胶带或液体导电胶);
2、磁性的(能被磁化或者被磁铁吸引)粉末或块状样品需要特别注意;
3、样品边缘不能超过样品台;
4、观察截面可以使用特制的截面样品台;
5、潮湿样品和易挥发样品不能放入样品仓;
6、样品放入样品仓前注意调整和测量高度。
2.1 样品制备的注意事项
2 日立S-4800的操作和应用技术
球面像差 C
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