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§6.2 X射线衍射分析其它应用简介 一、点阵参数的精确测定 点阵常数是晶体物质的基本结构参数，它随化学成分和外界条件(温度和压力等)的变化而变化。通过对某物质的点阵参数的精确测定，来研究其固溶体类型、晶体结构、晶体缺陷、晶体密度、材料的应力状态、相变过程、膨胀系数及相图的测定等。但是由于上述状态的变化引起的点阵参数的变化（?a）数值都很小，所以精确测定衍射线的2θ位置是及其关键的，通常不能小于0.1%。点阵参数是通过X射线衍射线的位置(θ)的测量而获得的。以立方晶系为例，测定θ后，点阵常数a可按下式计算： 二、微晶尺寸的测定 通过某晶面的衍射线宽度，测定微晶大小、应变，对一些金属材料还可计算位错密度等。 应用谢乐公式： Dhkl=Kλ/βcosθ 式中 Dhkl：是垂直于（hkl）晶面方向上的晶粒尺寸（?）； λ： X射线波长（?）； β： 衍射峰的半高宽（弧度）； θ： 衍射峰的布拉格角（度） K： 是常数。 三、宏观应力的测定 内应力是指产生应力的各种因素不复存在时(如外力已去除、加工已完成、温度已均匀、相变已停止等)，由于不均匀的塑性变形或相变而使材料内部依然存在的并自身保持平衡的应力。内应力按其平衡范围分为三类。 第一类内应力：在物体较大范围(宏观体积)内存在并平衡的内应力，此类应力的释放，会使物体的宏观体积或形状发生变化。第一类内应力又称“宏观应力”或“残余