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软错误率变动对检查点机制的影响-计算机学报.pdf

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    第卷第期计算机学报年月软错误率变动对检查点机制的影响贾文涛张春元国防科学技术大学计算机学院长沙摘要随着集成电路工艺进入纳米时代芯片正面临着软错误的威胁除了软错误在数量上的威胁外处理器还面临着由于工艺变动性和电压温度位置等工作环境变动而导致的错误率变动性的威胁即系统的错误率不会一直稳定而是随着时间发生变化检查点是系统容错的主要机制它的开销和检查点的间隔密切相关目前检查点间隔的确定大多是基于恒定错误率的但是在软错误变动的情况下自适应检查点的方法比固定方法更能够显著降低检查点开销它通过预测系统的错误率

    第 卷 第 期 计 算 机 学 报 ３９ ９ 　 　　 　　 　　 　　 Ｖｏｌ．３９ Ｎｏ．９ 年 月 ２０１６ ９ Ｓｅｔ．２０１６ ＣＨＩＮ

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