合金的晶界特征分布及其对晶间腐蚀的影响.pdfVIP

27 6 电 子 显 微 学 报 Vol27, No6 2008 12 Journal of Chinese Electron Microscopy Society 200812 : 2008) 690 * 夏 爽 , 周邦新, 陈文觉 ( 上海大学 材料研究所, 上海200072) : 运用扫描电子显微镜( SEM) 电子背散射衍射( EBSD) 取向成像显微技术( OIM) 研究了690 合金的晶界特 征分布及晶界特征分布对晶间腐蚀性能的影响低CSL ( coincidence ite lattice, 29) 晶界比例高( 725% ) 时会 n 出现大尺寸的晶粒团簇, 团簇内部晶粒互有3 取向差关系当低CSL 晶界比例低( 467% ) 时, 这种晶粒团簇的