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实验一 门电路逻辑功能的测试 * * (一) 实验目的 1)掌握常用的TTL门电路的逻辑功能的测试方法。 2)掌握芯片的管脚识别。 (二) 实验仪器设备 数字电路实验箱 数字万用表 芯片：74LS00 (与非门) 74LS86 (异或门) 74LS02 (或非门) (二) 实验内容及步骤 1) TTL“与非”门电路的逻辑功能的测试 任选其中一个“与非”门进行功能测试，输入端A、B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的电压和相应的逻辑状态，并将结果记入表1。 分别测试当输入端A、B悬空或接地是输出端F的逻辑状态。将结果记入表2。 表1 74LS00的逻辑功能测试数据 1 1 1 0 0 1 0 0 F 电压/V A B 输出 输入 表2 悬空或接地时输出端的逻辑状态 接地 悬空 输出 （高/低）电平 输入 2) TTL“异或”门电路的逻辑功能的测试 任选其中一个“异或”门进行功能测试，输入端A、B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的电压和相应的逻辑状态，并将结果记入表3。 表3 74LS86逻辑功能测试数据 1 1 1 0 0 1 0 0 F 电压/V A B 输出 输入 任选其中一个“异或”门进行功能测试，输入端A、B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的电压和相应的逻辑状态，并将结果记入表4。 3) TTL“或非”门电路的逻辑功能的测试 表4 74LS02逻辑功能测试数据 1 1 1 0 0 1 0 0 F 电压/V A B 输出 输入 思考题 TTL与非门输入端悬空相当于输入什么电平？为什么？ 如何处理各种门电路的多余输入端？ 4) 74LS的管脚图 四2输入“与非”门CT74LS00管脚图 四2输入“或非”门CT74LS02管脚图 四2输入“异或”门CT74LS86管脚图 四2输入“或非”门CT74LS02管脚图 四2输入“与非”门CT74LS00管脚图 四2输入“异或”门CT74LS86管脚图
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