透射电镜课件-第一部分.pptVIP

透射电子显微镜 Transmission electron microscope 以电子束为照明光源的显微镜。由于电子束在外部磁场或电场的作用下可以发生弯曲，形成类似于可见光通过玻璃时的折射现象，所以我们就可以利用这一物理效应制造出电子束的“透镜”，从而开发出透射电子显微镜。 TEM用聚焦电子束作照明源，使用对电子束透明的薄膜试样，以透过试样的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析试样内部的显微组织结构。 TEM常见工作模式有两种，即成像模式和衍射模式： 成像模式下，可得样品形貌、结构等信息。 衍射模式下，可对样品进行物相分析。 TEM的形式 透射电子显微镜（简称透射电镜，TEM），以几种不同的形式出现，如： 高分辨电镜（HRTEM） 透射扫描电镜（STEM） 分析型电镜（AEM）…. 入射电子束（照明束）也有两种主要形式： 平行束：透射电镜成像及衍射 会聚束：扫描透射电镜成像、微分析及微 衍射。 2.7 电磁透镜 能使电子束聚焦的装置称为电子透镜（electron lens） 静电透镜 电子透镜 恒磁透镜