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- 2019-10-29 发布于天津
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计量资料的统计描述
描述性统计分析是进行统计分析的第一步,做好这一步是正确进行统计推断的先决条件。
计量资料常用的统计描述指标和方法主要有:
1、集中趋势指标(Central Tendency):包括均数、几何均数、中位数等。其中均数适用于正态分布和对称分布资料;几何均数适用于对数正态分布和呈等比的数据资料;中位数适合于所有分布类型的资料,但在实际中,中位数主要应用于偏态分布资料、分布不明资料和开口资料。
2、离散趋势指标(Dispersion):包括全距、四分位数间距、 方差、标准差、变异系数、标准误等。方差、标准差用于正态分布资料,四分位数间距用于偏态分布资料,变异系数用于度量单位不同和均数相差悬殊的资料,标准误用于反映样本均数的离散程度,说明均数抽样误差大小。
SPSS的许多模块均可完成描述性统计分析,但专门为该目的而设计的几个模块则集中在Descriptive Statistics菜单中,最常用的是列在最前面的四个过程:
Frequencies过程:产生频数表;按要求给出某百分位数。对计量资料、计数资料和等级资料的描述都适用
Descriptives过程:进行一般性的统计描述,用于服从正态分布的资料,计算产生均数、标准差等;
Explore过程:用于对数据概况不清时的探索性分析;
Crosstabs过程:完成计数资料和等级资料的统计描述和一般的统计检
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