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用奇异值分解的方法自动检测LCD的缺陷;摘要;1，绪论;;In this paper, we propose a global approach that uses an SVD-based image reconstruction technique for inspecting micro defects including pinholes, scratches, particles and fingerprints
on the surface of TFT panels. The proposed method does not
rely on textural features to detect local anomalies, and does not require a reference image for comparison. It alleviates all limitations of the feature extraction schemes and template matching methods just mentioned.
在本文中，我们提出了用球形逼近的基于SVD图像重构技术去检测微观缺陷，其中包括小孔，刮痕，小??，和指纹。这个方法不是依靠结构的特点去发现局部异常，也不是要求用2个图像来进行比较。它是提取所有的极限特点有序和完全的满足以上所提到的方法。
SVD能够用来分解图像然后获得对角矩阵。所有的矩阵都是由奇异值组成。最主要的信息是：图像能够被表示为大量的奇异值。在LCD缺陷检测中，我们可以建立大量的从0到（preserve the smaller singular values）去重构图像。不规则背景被去掉，然后很清楚的还原不规则的图像。
;2缺陷检测安排;;用奇异值分解;;;基于ＳＶＤ的图像重建;从左到右分别为a,b1,b2,b3,c1,c2,c3 ;;选择合适的奇异值;图5，从左到右为a,b,c,d;y;;试验和讨论;;;;;图9Fig. 9. a1-d1 The defective images with pinhole, scratch, particle and fingerprint, respectively; a2-d2 The respective restored images; a3-d3 The resulting binary images for defect segmentation ;;依次为a--i;;图像旋转的影响;;结论
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