X射线成份分析2.pptVIP

§6 定量分析和误差来源一. 定量分析 先测出试样中某一元素的X射线强度，再在同一条件下测定标准样品该元素的X射线强度，然后二者分别扣除背底和计数器死时间对所测值的影响，得到相应的强度值Iy和Iy0。 修正方法： （1）理论计算法（理论影响系数法） 根据X光的产生、传播的物理过程，通过理论分析推导出修正因子。 其优点是推导过程只用到几只纯样品的数据。缺点是推导过程繁杂，应用过程也含有种种简化和近似，结果有较大误差（例如20％）。 （2）无标样半定量分析，仅在仪器安装时使用标样校准定标，之后不再使用标样。 （3）相似标样法 先制备一套已知其成份、浓度的标样，并测试标样中各种成份的X荧光谱线，备用。 为了缩小ZAF各种误差因素的影响，标样和试样的各种成份、浓度和测试条件尽量一致。 二、误差的ZAF修正 （1）原子序数修正（Z修正，标样与试样间的原子序数不同） （2）吸收修正（A修正） （3）荧光效应修正（F修正） 三、X荧光强度的计算 （一）激发因子E （1）吸收跃迁因子J（Absorption Jump Factor) －－－－对应于电子激发过程 一些典型K系激发的跃迁因子Jk （2）荧光产额ω （Fluorescence Yield) －－对应于电子向下跃迁的荧光产生过程 （3）谱线分数f （Relative Emission Rate)