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GB/T 5594.2-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　杨氏弹性模量　泊松比测试方法.pdf

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  • 约1.03千字
  • 约 8页
  • 2021-06-09 发布于四川
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  • 现行
  • 正在执行有效期
  •   |  1985-11-27 颁布
  •   |  1986-12-01 实施

GB/T 5594.2-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　杨氏弹性模量　泊松比测试方法.pdf

    《GB-T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法》.pdf

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    GB/T 5594.2-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　杨氏弹性模量　泊松比测试方法.pdf 原文免费试下载

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