《第四讲新企标与相关标准的区别秋》-精选课件(公开).pptVIP

新企标、IEC60815的主要变化-污区划分 IEC815只是定性的确认污秽程度，分四级。 IEC 60815在引入ESDD和NSDD表征污秽度后，参照绝缘子表面的ESDD和NSDD将污区划分为了a、b、c、d和e五级 污区不再由ESDD单一确定，变成了NSDD和ESDD共同确定 引入SPS概念 新企标、IEC60815的主要变化-SPS测量用不带电的参考绝缘子 需要带电不带电修正 不带电绝缘子污秽还缺少了电场力对污秽的影响，尤其是绝缘子下表面，尤其是钟罩型下表面。电场力不仅影响直接的积污，还影响放电，而放电又影响到积污（主要是下表面）。因此，不带电绝缘子上下表面积污比例与实际绝缘子会有些差别， 需要进行绝缘子形状修正 采用参考绝缘子测量污秽还缺少了绝缘子形状对污秽的影响，需要进行绝缘子形状修正。尤其在我国常用双伞型绝缘子，用参考绝缘子污秽划分污区后，是进行双伞绝缘子修正，还是用双伞绝缘子划分污区都需要认真考虑。另外，对复合绝缘子又该如何修正，也需要认真考虑。 新企标、IEC60815的主要变化-SPS由多年污秽确定 有利于绝缘配置一次到位 IEC 60815明确由参考绝缘子的多年污秽来确定污秽度，更符合实际情况，对于我国目前推行多年污秽度有利 一般来讲，多年污秽总比一年污秽要重，因此在数值上某地区的污秽度会比以前大。按照新标准在引入灰密，同一地区污秽分级可能更高。多年污秽度引入有