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稳态工作条件下功率晶体管结温的测量与控制 贾颖1,曾晨晖1，梁伟2,李逗1,李霁红1 (1.北京航空航天大学可靠性工程研究所，北京100083： 2.济南大学物理系,济南250002) 摘要：为了在试验周期中了解晶体管的结温,提出一种在功率晶体管稳态工作殍命试验过程中结温的测园与控制方法。着重介 绍了基于理想pn结肖克莱方程的结温测竄原理，及试验过程屮结温测控的技术难点和解决方案,指出了晶体管结温计算中存 在的问题和修正办法，实验结果证明了该方法的可行性。 关键词：晶体管：稳态工作：结温：测量：控制 中图分类号：TN321文献标识码：A文章编号：1003-353X(2006)01 -0035-05 1引言 稳态工作寿命试验足考核功率晶体管可靠性行之冇效的方法，现行国际标准(IEC)和欧美等国的标准及我国的国家标准、国 家军用标准均将其规定为必须试验项目［1?4］。稳态工作寿命试验条件要素包括：晶体管的电应力为与规定壳温Tc相应的报大 额定功率Ptotmax；晶体管的结温Tj符合标准的规定值，通常在最高允许结温Tjmax附近；晶体管稳态持续丁作时间满足标 准的要求。例如，我国军用标准GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》方法1039中的试验条件B：对底座或散热器安装 的双极型晶体管，结温规定为Tj=Tjmax °C［5］。GJB33A-97 ＜半导体分立器件总规范》对质量一致