《GBT18663.3—19电子设备机械结构公制系列和英制系列的试验 第3部分：机柜和插箱的电磁屏蔽性能试验》标准全文及编制说明.docxVIP

ICS FORMTEXT 31.240 FORMTEXT K 05 中华人民共和国国家标准 GB/T 18663.3—XXXX/IEC 61587-3:2013 FORMTEXT 代替GB/T 18663.3-2007 FORMTEXT 电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验　 第3部分：机柜和插箱的电磁屏蔽性能试验 FORMTEXT Mechanical structures for electronic equipment—Tests for IEC 60917 and IEC 60297—Part 3: Electromagnetic shielding performance tests for cabinets and subracks FORMTEXT （IEC 61587-3:2013,IDT） （征求意见稿） FORMTEXT XXXX - FORMTEXT XX - FORMTEXT XX发布 FORMTEXT XXXX - FORMTEXT XX - FORMTEXT XX实施 GB/T 18663.3—XXXX/IEC 61587-3:2013 PAGE 13 目??次 TOC \h \z \t前言、引言标题,1,参考文献、索引标题,1,章标题,1,参考文献,1,附录标识,1,一级条标题, 3,二级条标题, 4 前言 II 1　范围 1 2　规范性引用文件 1 3　电磁屏蔽性能试验 1 3.1　机柜和插箱的电磁屏蔽性能试验 1 3.2　试验条件 1 3.3　试验配置 2 3.3.1　标准天线的校准 2 3.3.2　发射天线 2 3.3.3　接收天线 2 3.3.4　基准测量 2 3.3.5　发射天线安装 2 3.3.6　试品安装 2 3.4　试验要求 2 3.5　试验结果 3 3.5.1　总则 3 3.5.2　开阔试验场地 5 3.5.3　半电波暗室或全电波暗室 6 附录A（资料性附录）　SDA示例—天线和测量 8 TOC \h \z \t正文图标题,2,附录图标题,2 图1　典型试验设备的配置 4 图2　测量数据图例 4 图3　基准场强E1测量的设置 5 图4　泄漏场强E2测量的设置（机柜） 5 图5　泄漏场强E2测量的设置（插箱） 5 图6　基准场强E1测量的设置 6 图7　泄漏场强E2测量的设置（机柜） 6 图8　泄漏场强E2测量的设置（插箱） 6 图A.1　SDA示图 8 图A.2　SDA系统 8 图A.3　E/O-O/E的传输特性 9 图A.4　E/O-O/E传输特性的测量系统 9 图A.5　测量结果 10 图A.6　测量场地的测量设置 10 TOC \h \z \t,正文表标题,2,附录表标题,2 表1　电场衰减等级 3 前??言 GB/T 18663《电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验》分为以下部分： ――第1部分：机柜、机架、插箱和机箱的气候、机械试验及安全要求（GB/T 18663.1-2008）； ――第2部分：机柜和机架的地震试验（GB/T 18663.2-XXXX）； ――第3部分：机柜和插箱的电磁屏蔽性能试验（GB/T 18663.3-XXXX）。 本部分为GB/T 18663的第3部分。 本部分代替GB/T 18663.3-2007《电子设备机械结构　公制系列和英制系列的试验　第3部分：机柜、机架和插箱的电磁屏蔽试验》，与GB/T 18663.3-2007相比，除编辑性修改外主要技术变化如下： ——修正了标准名称，由前一版的《电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第3部分：机柜、机架和插箱的电磁屏蔽性能试验》中删除了“机架”； ——修正了发射天线要求中，增加强调了“必须确认该天线是否能够保证足够的功率等级”，增加了发射天线连接试样外部发射设备的连接要求； ——修正了发射天线到机壳的金属壁的距离宜至少是“机壳的直径“为至少是“球形天线的直径”，改正了前一版的错误； ——修正了试验要求中，接收天线应从1 m～4 m高度扫过，推荐的扫描高度的步进增量为0.1m。删除 ——修正了图1典型试验设备的配置，图中增加了信号发生器，改正了前一版的错误； ——修正了本部分规定的电磁屏蔽性能等级与IEC 61000-5-7标准规定的性能等级EM代码的关系； ——修正了附录A，新编制了其中的图示编号，增加了图中设备符号的名称注释。对E/O-O/E的传输特性与前一个版本要求