材料微观分析总复习.pptVIP

材料微观分析---总复习 透射电镜 扫描电镜 能谱仪、波谱仪 背散射电子衍射仪 X射线衍射仪 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 电子显微学部分 TEM结构与成像原理（P14-22） 电子衍射原理（P32） 布拉格方程（P32） 倒易点阵(P34) 电子衍射基本公式(P36) 晶带定理(P41) 衍射花样的标定(P44-50) 样品制备方法(P26) 扫描电子显微学 SEM结构与成像原理(P83-86) 两种成像衬度(P89-95) SEM的应用 (P4) 成分分析方法(P104-110) 能谱仪 波谱仪 X射线部分： X射线产生的条件(三个条件，见后面填空题) 特征X射线 K系激发，L系激发…（特征X射线定义P113） X射线与物质的相互作用（P114-115） X射线的衍射方向(即θ，利用2d=sinθ（d=?，P49有公式，带入即可）) X射线的相对积分强度公式（P117 9-7式） X射线衍射谱的标定（依据、注意事项、多相物质的标定方法）（找不到，参照P120-121） 扫描探针显微镜 STM成像原理(P130)、工作模式(P134) AFM成像原理(P138-139)、工作模式(P139) 主要应用(P135、P140) 背散射电子衍射 背散射电子衍射花样的形成原理(P98) 取向衬度的形成原理 背散射电子衍射的主要应用(P99-P103) 部分模拟试题 二、 判断题 你认为是正确的请在题后面的括号中填√，你认为是错误的在题后面的括号中填×。 5. 在透射电子显微镜中，如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像；如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样。（ T ） 6. 特征X射线的波长与X射线管的加速电压有关。（ F ） 7. X射线衍射分析、电子探针X射线显微分析方法均以X射线为信号源。（ F ） 8. 扫描隧道显微镜可用于研究导电材料和非导电材料。（ F） 判断题勘误 2、背散射电子改为二次电子 3、只考虑衍射效应分辨率与孔径角成正相关，只考虑球差分辨率与孔径角成负相关。 6、特征x射线波长只与原子序数有关 7、电子探针是以电子为信号源的 8、扫描隧道显微镜只能检测导体材料 三、填空题（共14分，每小题2分) 1. X射线产生的条件是 产生自由电子 、 自由电子定向高速运动、有障碍物使其突然减速 。 2. 透射电镜主要由 电子光学系统 、 真空系统 、电源系统组成。 3. 利用电子束与样品作用产生的特征X射线分析样品微区成分的方法为 能谱法 、 波谱法 。 4. 透射电镜的图像衬度有 质厚衬度 、 衍射衬度 、 相位衬度。 5.透射电镜薄膜样品的最终减薄法有两种，分别为 电解抛光 、离子减薄 。 6.根据衍衬成像原理，透射电镜可进行二种衍衬成像操作，分别得到 明场 像和 暗场 像。 7.能谱仪成分分析主要有三种工作方式， 分别是 点 分析、 线 分析和 面 分析。 8.原子力显微镜的工作模式有 接触模式 ， 轻敲模式 ， 非接触轻敲模式 。 四、简答题 1.二次电子像景深很大，样品凹坑底部都能清楚地显示出来，从而使图像的立体感很强，其原因何在? 2.分析钢中碳化物形态和成分，应选用哪种仪器？为什么？ 3.要确定材料的物相用什么方法？为什么？ 4.X射线（或电子射线）与物质相互作用产生的物理信号有哪些？ 5.写出基本点阵的系统消光规律 6.布拉格方程有哪方面的应用？ 7.倒空间的g矢量有哪些重要性质？ 8.何谓晶带定律？判断（110）（021）（221）（121）是否同一晶带。 9.写出X射线相对积分强度的计算公式。 10.写出立方晶体衍射方向公式 11.Ｘ射线衍射与可见光镜面反射有何异同？ 两者相似：入射角等于反射角 衍射和反射的本质区别 （1）衍射是散射波相干的结果，而光反射仅发生在两种介质的界面上。 （2）衍射只在满足布拉格角的角度上产生（入射线与衍射线的夹角永远是2θ），而反射可在任意角度产生。 （3）反射效率可接近100%，而衍射强度与入射强度相比却微乎其微。 简答题答案 1、P87电子束发散度 2、带能谱仪的扫描电镜及透射电镜，原因见各种透镜的成像原理与应用 3、x射线衍射，透射电镜（电子衍射），具体原因见成像原理及应用 4、P114，弹性散射，非弹性散射，特征X射线，俄歇电子 5、P39表 6、相结构分析（已知θ、λ求d）和成分分析(已知d、θ求λ) 7、P35 8、P41 9、P117，式9-7 10、 五、选择