测定介质损耗因数.pptVIP

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2019-11-29 发布于山西
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测定介质损耗因数.ppt

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第五章电气设备绝缘试验（一） QS1型电桥原理结论： QS1电桥的反接线西林电桥反接线 tanδ测量的影响因素外界电磁场的干扰；温度的影响；试品电容量的影响；试品表面泄漏电流的影响。倒相法消除电场干扰两次介损和电容的测量结果分别为： tgδ1，C1 tgδ2，C2 实际介损和电容量计算： * HVDC Valves 5.3 介质损失因数的测量仪器：西林电桥（QS1）自动抗干扰电桥用途：用于发现电气设备整体性绝缘缺陷 Cx Rx CN R3 R4 C4 令 C4单位是微法 Cx Rx CN R3 R4 C4 C4的读数就是tanδ数值（例如：C4=0.006uF,tgδ=0.6%) 采用反接线有时，试品主绝缘有一侧和地相连，不能断开，正接线无法测量。高压带电体 IX I’X I’X IX *