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UCLR = R * D4 LCLR = R * D3 备 注： D4在2次试验时取3.27，在3次试验时取2.58，对于7次以下的试验D3=0。UCLR代表单值R的极限，圈出那些超出极限的点，识别原因并加以纠正。使用与开始时相同的评价人和量具，重复这些读数或剔除超限值后，用剩下的观测值来重新计算均值、R值及控制限。 注：结果分析是基于每个因素对总变差或公差所占的百分比。计算百分比时公差可能替代总变差作为分母。 计算： 测量系统分析---重复性和再现性分析(均值极差法) 测量系统分析---重复性和再现性分析 结果分析——图形分析： ◇ 画出均值图及其上下控制线； ◇ 画出极差图及其控制线。 ◇ 根据对均值图和极差图进行分析。 测量系统分析---重复性和再现性分析 对于分析的均值图： ——均值图提供了测量系统的“可用性”指示。 控制区域内部表示的是测量灵敏度（“噪声”）。因为研究中使用的零件子组代表过程变差，大约一半或更多的均值应落在控制限以外。 对于分析的极差图： ——用于确定过程是否受控。 如果所有的极差都受控，则所有评价人的工作状态是相同的。 测量系统分析---重复性和再现性分析 测量系统分析---重复性和再现性分析 结果分析——数值分析： 重复性——设备变差：EV = R × K1 再现性——评价人变差： 重复性和再现性： 零件变差：PV = R × K1 总变差： AV = （XDIFF×K2）2-（EV2/nr） √ GRR = EV2+AV2 √ TV = GRR2 + PV2 √ σ2obs = σ2actual + σ2msa 同样地，Cpobs 也由Cp actual和Cpmsa组成 如果Cp msa = 2，为了达到 Cp obs = 1.33, Cp actual必须达到1.79以上 对新过程的影响： 当有一个新过程，经常要完成一系列步骤，这通常包括在供应商处对设备的研究以及随后在顾客处对设备的研究。 如果在任何一方使用的测量系统与在正常情况下使用的测量系统不一致，那么就会发生混乱。最通常的情况包括使用不同的仪器。 最坏的情况是不具备资格的量具被投入使用。 ——对过程决策的影响： 对作业准备的影响： 通常生产操作是在一天的开始时使用单个零件来检验过程是否对准目标。如果测量的零件在目标外，就调整过程。然后，在一些情况下测量另一个零件并且可能再次调整过程。——干预 如：某金属涂层重量的控制目标是5.00克，通常作业准备时，要求操作者以一个样件为基础对其进行验证，如果过程运行超过4.90-5.10，应再次设定（调整）过程。 某天，假设过程实际运行为4.95克，但由于测量误差，观测值为4.85克，因此操作者调整过程至5.00克，但此时实际运行为5.10克。……这样的过度调整由于从来没有进行测量系统分析持续影响。 规则： 除非过程不稳定，否则不作调整或不采取行动。 测量系统的策划和选择 在评价一个测量系统时必须考虑三个基本问题： ◆测量系统必须显示足够的灵敏性； ——分辨力： ● 测量仪器的第一准则应该至少是被测范围的十分之一； ● 过程分布的分组数量（ndc)：如果极差图显示出可能四个极差值在控制限内，并且超过四分之的极差值为零，则该测量是在分辨力不足时进行的。 ● 测量仪器的最新准则为分辨率最大为全过程的6σ标准偏差的十分之一。 测量系统的策划和选择 ◆测量系统必须是稳定的； ◆统计特性（误差）在预期的范围内一致，并足以满足测量的目标（产品控制或过程控制）。 第四节测量系统研究和策划 测量系统研究的准备步骤 ?根据研究目的，策划要采用的方法。 ?规定测量者人数、样件个数以及重复的测量结果的个数。这可能取决于尺寸的临界性或零件的物理特性。  ?选择经常使用这种仪器的测量者。  ?在几天生产的产品中取样，以保证所选取的样品代表整个操作范围。对每个零件进行编号以便于识别。（选自于过程并且代表整个生产范围——即代表产品变差的全部范围） ?要保证所使用的测量装置的分辨力为所要测量的特性预期的过程变差的十分之一。（如果特性的变差的0.001,要求仪器能读到0.0001的变化量。） 在测量系统的研究中，将误传信息的危险性降到最小是十分重要的。下面四条事项需要注意： ?由一个懂得认真谨慎在完成一个可靠的研究中的重要性的人来完成这项研究。  ?要保证每一个测量者使用相同的程序，包括获取数据的步