LDS传感器高低温测试报告.pdfVIP

深圳市微航磁电技术有限公司 记录编号 ﹕RLR1508005 LDS传感器高低温测试报告 测试项目﹕高低温测试 产品名称﹕ 产品编号：GP158060 客戶﹕ 样板数量﹕2pcs 样板来源﹕工程部 送样部门﹕工程部 样板状况﹕ 工程样板 试产 量产 附件 其它 附件供应商﹕N/A 接收样板日期:2015-08-20 幵始测试日期:2015-08-20 测试完成日期:2015-08-21 测试条件： 1.高温 85℃ 湿度 95% ： ， ： ； 2.低温：-40℃； 3.高温测试12小时 低温测试 12小时 高低温循环每周期为30分钟 ； ； ； 测试方法﹕ 1.取2PCS测试样板，检 查外观无异常； 2.将恒温恒湿测试机设至温度85℃ ，湿度：95% ； 3.将恒温恒湿测试机设至低温：-40℃； 4.高温测试 12小时；低温测试 12小时，高低温循环每周期为30分钟； 5.测试完成后 在常温放置2小时后 再检查 ， ， ； 测试图片 ﹕ 低温测试 高温测试 测试后无变形等不良现象 检查标准： 1.按常规外观标准检验。 2.外观无变形等不良现象。 测试结果： 合格 不合格 供参考 备注﹕ 测试员﹕陈品端 审核﹕蔡肇康 批准﹕蔡肇康 表格编号：V-ON-FOR-Q021-A1