YST 1344.3-2020 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法.pdf

铲平 ICS 77.120.99 H 13 YS 中华人民共和国有色金属行业标准 YS/T 1344.3-2020 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3 部分：物相分析 X 射线衍射分析法 Methods for chemical analysis of tin-doped indium oxide powder— Part 3: Phase analysis — X-ray diffraction method （报批稿） 20 ××- ××- ××发布 20 ××- ××- ××实施 中华人民共和国工业和信息化部 发布 YS/T/ ×××—×××× YS/T/ ×××—×××× 前 言 YS/T **** 《掺锡氧化铟粉化学分析方法》共分为3 个部分： ——第 1 部分：铁、铝、铅、镍、铜、镉、铬和铊含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法； ——第 2 部分：硅含量的测定 钼蓝光度法； ——第 3 部分：物相分析 X射线衍射分析法。 本部分为YS/T **** 的第 3 部分。 本部分按照GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。 本部分由全国有色金属标准化技术委员会 （SAC/TC 243）提出并归口。 本部分负责起草单位：广西壮族自治区冶金产品质量检验站。 本部分起草单位：广西华锡集团股份有限公司、广西晶联光电材料有限责任公司、广西壮族自治区 地质矿产测试研究中心、广东省工业分析检测中心、广西壮族自治区分析测试研究中心、桂林理工大学 南宁分校、南宁奥博斯检测科技有限责任公司、洛阳晶联光电材料有限责任公司。 本部分主要起草人：黄肇敏、李凤、黄誓成、农永萍、韦丛中、李扬、周素莲、罗艳、黄基宁、黄 一帆、毛香恩、薛超、张凤英、黄庆柒、孙大翔、马超宁、徐灿辉、陈进中、刘永强。 YS/T/ ×××—×××× YS/T/ ×××—×××× 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3 部分：物相分析 X 射线衍射分析法 1 范围 本部分规定了掺锡氧化铟粉中物相的测定方法。 本部分适用于掺锡氧化铟粉中物相的测定。 2 原理 每一种物质的晶体都有其特定的X 射线衍射谱图，由此根据X 射线射到样品表面上获得的特征衍 射谱图或数据，从而确定样品中的物相。 3 仪器设备 多晶X 射线衍射仪，工作环境温度10℃～35℃，环境相对湿度30 %～80 % 。测量参数可根据所用 多晶X 射线衍射仪使用说明书中的有关要求确定。推荐测量参数： ——Cu Kα辐射； ——X 光管管压40 kV ，管流40 mA ； ——发散狭缝 （1/4）°，散射狭缝 （1/2)°，接收狭缝7.5 mm ； ——扫描范围（2θ）：20°～70°。 4 试样 4.1 试样粒度应不大于0.048 mm 。 4.2 试样应在105 ℃±5 ℃烘箱中烘干 1h ，并置于干燥器中冷却至室温备用。 5 试验步骤 5.1 测量试片的制作 向玻璃样品板中加入适量的试样（4），压实，压平，使衍射面的样品表面平整、疏密度相同，衍 射面与样品面应在同一平面。 5.2 测定 5.2.1 按照仪器操作规程开机，并使主机预热15 min～30 min 。 5.2.2 将制备好的测量试片（5.1）置于衍射仪样品台上，按照设置好的仪器测量参数进行扫描，获得 试样的衍射谱图或数据。 6 试验数据处理 将试样的衍射谱图或数