三原子吸收与原子荧光光谱法.pptxVIP

第一节 原子吸收光谱分析基本原理;一、概述;一、概述;二、原子吸收光谱的产生;2.元素的特征谱线;三、谱线的轮廓与谱线变宽;吸收峰变宽原因：;吸收峰变宽原因：;（3）压力变宽pressure broadening  （劳伦兹变宽，赫鲁兹马克变宽）;四、积分吸收和峰值吸收; 如果将公式左边求出，即谱线下所围面积测量出（积分吸收）。即可得到单位体积原子蒸气中吸收辐射的基态原子数N0。;2.锐线光源;3.峰值吸收;峰值吸收;五、基态原子数与原子化温度;六、定量基础;第二节 原子吸收光谱仪及主要部件;原子吸收仪器（1）;原子吸收仪器（2）;原子吸收仪器（3）;原子吸收仪器（4）;一、流程;2.原子吸收中的原子发射现象;二、光源;3.空心阴极灯的原理;三、原子化系统;2.原子化方法;3.火焰原子化装置;原子化器;（2）火焰; 火焰类型：;火焰种类及对光的吸收：;4.石墨炉原子化装置;（2）原子化过程;（3）优缺点;5.其他原子化方法;（2）冷原子化法;四、单色器;五、检测系统;第三节 干扰与抑制; 待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类干扰主要来自光源和原子化装置，主要有以下几种： 1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线。 可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。 2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射。 换用纯度较高的单元素灯减小干扰。 3.灯的辐射中有连续背景辐射。 用较小通带或更换灯; 试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应，主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小等。 可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑制。 ; 指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应,主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。 1. 化学干扰的类型 （1）待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物，致使参与吸收的基态原子减少。 例：a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。 （2）待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收，总吸收强度减弱，电离电位≤6eV的元素易发生电离，火焰温度越高，干扰越严重，（如碱及碱土元素）。; 2.化学干扰的抑制; 背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和散射干扰，干扰严重时，不能进行测定。 1. 分子吸收与光散射 分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。 光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。 产生正偏差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重 如何消除？;2.背景干扰校正方法;（2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法;第四节 分析条件的选择与应用;一、特征参数;2.检出极限;二、测定条件的选择;三、定量分析方法;2.标准加入法;四、应用;第五节 原子荧光光谱分析法;一、概述;二、基本原理; 2.原子荧光的产生类型;（2）非共振荧光;直跃线荧光（Stokes荧光）;阶跃线荧光：;anti-Stokes荧光：;（3）敏化荧光; 3.荧光猝灭与荧光量子效率; 4.待测原子浓度与荧光的强度;三、原子荧光光度计;多道原子荧光仪;2．主要部件