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3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) COUPLING 設定為 低輸入電阻 50? 終端電阻 50? 的設計 ( BNC+50? ) 被動式低壓測試棒 ( 500? ) 被動式低壓測試棒 ( 5K? ) COUPLING 設定為高輸入阻抗 1M? 被動式電壓測試棒 ( 10M? ) 被動式高壓測試棒 ( 100M? ) 主動式差動電壓測試棒 ( 1M? ) COUPLING 自動設定輸入電阻 主動式電壓測試棒 ( 1M? ) 主動式差動電壓測試棒 ( 1M? ) 主動式電流測試棒 ( 1M? ) 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 示波器內阻設定分為 1M? 及 50?，兩種阻抗的設計源自於不同的應用。 終端阻抗應用請設定為50?。 負載效應方式請設定為1M?，這是示波器傳統的量測方式。 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 終端阻抗 ( TERMINAL ) 一般屬通訊信號或阻抗設計為 50? 的電路 ( 信號產生器 )，正常使用應該搭配同軸電線 ( BNC ) 不須使用測試棒。 以下圖例為直流電源分析： 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 終端阻抗 ( TERMINAL ) 一般屬通訊信號或阻抗設計為 50? 的電路 ( 信號產生器 )，正常使用應該搭配同軸電線 ( BNC ) 不須使用測試棒。 以下圖例為交流電源分析： 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 負載效應 ( LOAD EFFECT ) 示波器與信號源分別為不同獨立迴路，因此示波器量測造成信號源的損壞，依負載的大小影響程度不同，通常搭配測試棒提高示波器阻抗降低負載效應。 測試棒增加量測系統阻抗，降低負載效應。 以下圖例為直流電源分析： 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 負載效應 ( LOAD EFFECT ) 示波器與信號源分別為不同獨立迴路，因此示波器量測造成信號源的損壞，依負載的大小影響程度不同，通常搭配測試棒提高示波器阻抗降低負載效應。 量測系統的量測品質受電容及接地電感影響。 以下圖例為交流電源分析： 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 被動式電壓測試棒 ( PASSIVE PROBE ) 確認測試棒的輸入阻抗規格。 衰減倍率由示波器自動匹配。 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 主動式電壓測試棒 ( ACTIVE FET PROBE ) 電源由示波器供應，不需要再外接電源。 設定阻抗匹配為DC或AC條件。 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 電流測試棒 ( CURRENT PROBE ) 電源由示波器供應，不需要再外接電源。 設定阻抗匹配為DC或AC條件。 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 差動式測試棒 ( DIFFERENTIAL PROBE ) 電源由示波器供應，不需要再外接電源。 阻抗匹配之初始設定值為 DC，轉接頭連結於測試棒前端後即為 AC。 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) DC COUPLING 與 AC COUPLING 的差異 阻抗匹配之設定為 DC1M?：觀測直流信號＋交流信號。 阻抗匹配之設定為 AC1M?：觀測交流信號，而直流信號被濾波。 3-1.阻抗匹配 ( COUPLING ) 交直流信號 ( DIRECT+ALTERNATING CURRENT ) 信號源包括直流及交流信號。 3-2.校正測試棒 ( PROBE CALIBRATION ) 被動式測試棒 ( 標準配備 ) 被動式測試棒必須作校正 ( 電容補償 )，以確保電壓量測值之準確性。 3-2.校正測試棒 ( PROBE CALIBRATION ) 如果測試棒在波道 1 使用，則使用 前必須校正，如欲拿下並更換至波 道 2 使用，則必須從新校正測試棒。 步驟 1： 將測試棒的示波器輸入端連 接波道 1 / 2 / 3 / 4 任選一輸 入端。 步驟 2： 將測試棒正極端透過轉接頭 連接示波器最右側 BNC 校 正信號源輸出端。 步驟 3： 選擇自動設定，自動設定觸 發、位準、水平時基與垂直 電壓檔位。 3-2.校正測試棒 ( PROBE CALIBRATION ) 欠激現象 ( UNDERSHOOT ) 測試棒須作補償電容調整，調整到波形為完整的方波。 3-2.校正測試棒 ( PROBE CALIBRATION ) 過激現象 ( OVERSHOOT ) 測試棒須作補償電容調整，調整到波形為完整的方波。 3-2.校正測試棒 ( PROBE CALIBRATION ) 補償正確 ( CORRECT PROBE-CAL ) 測試棒完成補償電容