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金材 02 级《材料分析测试技术》课程试卷答案 一、选择题：（8 分/每题 1 分） 1. .当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后，L 层电子回迁 K 层，多余能量将另一个 L 层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。 A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C） 2. 有 一体 心立 方晶 体的晶 格常 数是 0.286nm， 用铁 靶 Kα （ λKα =0.194nm）照 射该 晶体 能 产生（ B ）衍射线。 A. 三条； B .四条； C. 五条；D. 六条。 3. .最常用的 X 射线衍射方法是（ B ）。 A. 劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。 4. .测定钢中的奥氏体含量，若采用定量 X 射线物相分析，常用方法是（C ）。 A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K 值法。 5. 可以提高 TEM 的衬度的光栏是（ B ）。 A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。 6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（ D ）。 A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A 或 B。 7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（ C ）。 A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。 8. 仅仅反映固体样品表面