1953年,Bucton等给出了有效分凝系数ke的表达式 将非平衡态的界面分凝系数近似地看作是平衡过程,于是k*≌k0(平衡分凝系数),则 * PPT课件 根据上式: 当δc→0,即熔体作充分的搅拌,熔体中的溶质浓度均匀分布时,则 exp(-γδc/D)=1, 所以 ke=k0 δc→∞时,即熔体不作搅拌, 则有exp(-γδc/D)=0,所以ke=1 实际上,晶体的生长过程,总是介于上述两种极限情况之间。 即:溶质的有效分凝系数 k0ke1(k01) 或 k0ke1(k01) * PPT课件 2、搅拌对溶液晶体生长速率的影响 溶液被搅拌的越充分,溶质边界层的厚度( δc )也越薄,溶质在边界层内的浓度梯度越大,晶体生长速率也随着相应的增大。 加快搅拌速率时,溶质浓度梯度所引起的变化如图2.12 * PPT课件 1967年,英国,Brice 讨论了搅拌对水溶液晶体生长速率的影响。 当δc →0时,即相当于溶液充分搅拌的情况,晶体生长主要由动力学控制 * PPT课件 当δc →∞时,即完全不搅拌的情况下,晶体生长主要由溶质边界层效应控制 此时,晶体质量生长速率趋于极小值,相当于准静态生长 * PPT课件 §2.4 晶体生长界面的稳定性 晶体生长界面的稳定性涉及到晶体质量的优劣,当生长优质块状大单晶时,相变必须在稳定的界面上发生才能保持晶体结构的均一性。 即晶体生长过程中的界
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