器件设计技术.pptxVIP

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  • 2019-12-28 发布于上海
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第三讲 器件设计技术1 引言 集成电路按其制造材料分为两大类:一类是Si(硅),另一类是GaAs(砷化镓)。目前用于ASIC设计的主体是硅材料。但是,在一些高速和超高速ASIC设计中采用了GaAs材料。用GaAs材料制成的集成电路,可以大大提高电路速度,但是由于目前GaAs工艺成品率较低等原因,所以未能大量采用。双极型工艺 ECL/CML( Emitter Coupled Logic/Current Mode Logic) : 射极耦合逻辑/电流型开关逻辑 TTL:Transistor Transistor Logic 晶体管-晶体管逻辑 I2L:Integrated Injection Logic 集成注入逻辑MOS 工艺 NMOS、PMOS: MNOS:Metal Nitride(氮) Oxide Semiconductor (E)NMOS与(D)NMOS组成的单元 CMOS: Metal Gate CMOS HSCMOS:High Speed CMOS (硅栅CMOS) CMOS/SOS:Silicon on Sapphire(兰宝石上CMOS,提高抗辐射能力) VMOS:Vertical CMOS(垂直结构 CMOS提高密度及避免Latch-Up效应)GaAs集成电路 GaAs这类Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体中载流子的迁移率比硅中载流子的迁移率高,通常比掺杂硅要高出

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