射线荧光仪在水泥生产过程中的一套监控方法.ppt

DXC 2008 校准曲线的截距 含量和测量的X射线荧光信号（净强度）成正比 净强度＝毛强度－背景强度 DXC 2008 校准曲线的截距 当样品的成分变化不大时，各个样品的背景信号几乎是一致的 为节省测量时间，通常不测量背景，将背景视为常数，即校准曲线的截距。 DXC 2008 截距会变化吗？ 当成分略有变化时，背景信号几乎不变 背景信号只占毛强度的很小比例 因此，生料样品的校准曲线的截距是不变的 DXC 2008 XRF与化学分析结果的比较 Al2O3、Fe2O3、MgO、K2O、Na2O、SO3 二种分析方法的结果符合较好 CaO 偶尔有偏差 SiO2 二种分析方法出现偏差的概率较大 DXC 2008 某公司的解决方法 频繁地用化学分析方法监控XRF分析结果，当出现偏差时，修改校准曲线的截距 为什么Fe2O3、Al2O3、MgO的分析结果符合较好，而SiO2有偏差？ 生料的成分变化较小，元素之间的影响很小 一个笼统的解释：原料变了 DXC 2008 某公司的解决方法 选择正常的生料样品为标样，由于正常生料样品的成分含量变化不大，导致校准曲线的斜率很小，曲线很平。 当生产正常时，XRF分析结果与化学分析结果对应很好。但当生产出现问题时，由于校准曲线的斜率很小，XRF的分析结果不能及时反应生产情况。在与化学结果比对时，发现有偏差，调整截距。 DXC 2008 某公司的解决方法 用某公司的较平的校准曲线测量了2个生料样品的SiO2含量 XRF结果 化学结果 样品1 （生产正常） 13.11 13.15 样品2 （生产不正常） 13.42 14.02 DXC 2008 布鲁克的解决方案 为什么SiO2容易出现问题？ SiO2多以石英存在，较硬，不容易磨细 Si的信号仅来自于样品表面13μm 分析层 !! DXC 2008 布鲁克的解决方案 将样品磨细、磨均匀 不能粘磨盘 DXC 2008 布鲁克的解决方案 采用某公司的制样方法：18克样品，3到5滴酒精和三乙醇胺，研磨120秒。制了5个样片，用布鲁克的校准曲线测量结果如下： 用某公司较平的校准曲线，是发现不了这种变化的。用某公司较平的校准曲线的测量结果如下，结果很平行，掩盖了样品的不均匀 SiO2 (%) Al2O3 (%) Fe2O3 (%) CaO (%) MgO (%) 13.61 2.54 1.97 44.42 0.61 13.46 2.53 1.96 44.41 0.61 13.42 2.53 1.96 44.42 0.61 13.50 2.53 1.97 44.4 0.61 13.24 2.53 1.94 44.43 0.61 SiO2 (%) Al2O3 (%) Fe2O3 (%) CaO (%) MgO (%) 13.33 2.54 1.97 44.42 0.61 13.3 2.53 1.96 44.41 0.61 13.29 2.53 1.96 44.42 0.61 13.31 2.53 1.97 44.4 0.61 13.25 2.53 1.94 44.43 0.61 DXC 2008 布鲁克的解决方案 用硬脂酸作为分散剂，解决样品的不均匀问题 用淀粉作为粘结剂，解决样品分散后的粘性不足问题。 制了5个样片，结果如下。 SiO2 (%) Al2O3 (%) Fe2O3 (%) CaO (%) MgO (%) 11.95 2.51 1.88 43.95 0.56 11.88 2.51 1.88 43.97 0.56 11.96 2.51 1.92 43.93 0.57 11.87 2.51 1.9 43.94 0.56 11.94 2.51 1.93 43.93 0.56 1、采用布鲁克推荐的制样方法 2、逐渐用新制备的二级标准样品，代替原来的二级标准样品 DXC 2008 S8 Tiger型X射线荧光仪专为水泥等工业企业而设计的其它功能 CEM-Quant 全中文软件 分级管理 精密且快速的在线测量 硫化物-硫酸根的分析 One for All（一锤定音）功能 DXC 2008 全中文软件 中文软件可以随时升级到最新版本 与之配套，中文软件和硬件说明书 DXC 2008 导航功能 一步一步引导您从样品的定义到结果的输出 思路清楚，操作简单、直观 即使新手，从第一天就可以进行定量分析工作 全中文软件 DXC 2008 操作人员的分级管理 在“用户级别”中有4个级别可选： A、普通用户：最基本的级别，允许测量样品，允许查看结果。 B、互动评估用户：在“普通用户”的基础上，可以评估无标样分析结果。 C、实验室经理：在“互动评估用户”的基础上，可以建立和修改工作曲线。但不能修改仪器配置。 D、管理员：管理员级别，最高的级