《CREO2.0扫描建模详解》.docVIP

零件建模——扫描 1、扫描概述 当使用“扫描”工具创建扫描时，可以创建实体或曲面特征。可在沿一个或多个选定轨迹扫描截面时通过控制截面的方向、旋转和几何来添加或移除材料。可使用恒定截面或可变截面创建扫描。 扫描工具的主元件是截面轨迹。草绘截面定位于附加至原点轨迹的框架上，并沿轨迹长度方向移动以创建几何。原点轨迹以及其他轨迹和其他参考 (如平面、轴、边或坐标系的轴) 定义截面沿扫描的方向。 创建扫描时，根据所选轨迹数量，扫描截面类型会自动设置为恒定或可变。单一轨迹设置恒定扫描，多个轨迹设置为可变截面扫描。如果向扫描特征添加或从中移除轨迹，扫描类型会相应调整。但是，可以覆盖默认设置，也可以通过单击 或 手动设置扫描类型。 “恒定截面”(constant section) - 在沿轨迹扫描的过程中，草绘的形状不变。仅截面所在框架的方向发生变化。 “可变截面”(variable section) - 将草绘图元约束到其他轨迹 (中心平面或现有几何)，或使用由 trajpar 参数设置的截面关系来使草绘可变。草绘所约束到的参考可更改截面形状。另外，以关系 (由 trajpar 设置) 定义标注形式也能使草绘可变。草绘在轨迹点处重新生成，并相应更新其形状。 2、扫描特征用户界面 2.1单击“模型”(Model)?? “扫描” (Sweep)。“扫描”(Sweep) 选项卡随即打开。 2.2扫描选项卡 3、创建扫描特征的一般过程 3.1单击“模型”(Model)?? “扫描” (Sweep)。“扫描”(Sweep) 选项卡随即打开。 3.2要选择一条或多条轨迹，单击“参考”(References) 选项卡，单击“轨迹”(Trajectories) 收集器，然后选择现有曲线链或边链。 ——按住 CTRL 键以选择多个轨迹。按住 SHIFT 键以选择形成链的多个图元。如果需要，请单击“细节”(Details) 打开“链”(Chain) 对话框来选择轨迹段。 ——选择的第一个链随即变成原始轨迹。一个箭头出现在原始轨迹上，从轨迹的起点指向扫描将要跟随的路径。单击该箭头，将轨迹的起点更改到轨迹的另一个端点。 ——要移除轨迹，右键单击并选取“移除”(Remove)。这对除原点轨迹外的所有轨迹均有效。要移除 x 轨迹或法向轨迹，清除 X 或 N 复选框以移除属性，然后移除轨迹。不能替换或移除存在相切参考的轨迹。 3.3要更改截面类型，在“扫描”(Sweep) 选项卡上，单击 创建大小和形状保持不变的截面，或单击 创建大小和形状可以沿扫描变化的截面。 ——除非指定了截面类型，否则开始选择轨迹时会自动设置。如果选择了一条轨迹，截面类型会被设置为恒定。如果选择了多条轨迹，它会被设置为可变。单击截面类型命令可覆盖自动设置。 3.4单击 创建实体扫描，或单击 创建曲面扫描。 3.5要沿着扫描移除材料，可单击 。单击 反向从中移除材料的草绘侧。 3.6要给出扫描厚度，请单击 ，然后键入或选择厚度值。使用 在草绘的一侧、另一侧或两侧之间切换加厚方向。 3.7对于移除材料的曲面扫描，单击“面组”(Quilts) 收集器，然后选择要修剪的面组。 3.8单击“参考”(References) 选项卡，然后按下列要求选择相应的项： A、在“截平面控制”(Section plane control) 列表中，选择一个选项来确定如何定向截平面 (扫描坐标系的 z 方向)： ——“垂直于轨迹”(Normal To Trajectory)。如果也需要在水平/竖直控制下选择“自动”(Automatic)，可单击“起点的 X 方向参考”(X direction reference at start) 收集器，并选择基准平面或基准曲线、线性边或坐标系的一个独立轴。 ——“垂直于投影”(Normal To Projection)。单击“方向参考”(Direction reference) 收集器并选择用于投影的参考。单击“反向”(Flip) 反转方向。 ——“恒定法向”(Constant Normal Direction)。单击“方向参考”(Direction reference) 收集器并选择用于投影的参考。 ——如果也需要在水平/竖直控制下选择“自动”(Automatic)，可单击“起点的 X 方向参考”(X direction reference at start) 收集器，并选择基准平面或基准曲线、线性边或坐标系的一个独立轴。 B、在“水平/竖直控制”(Horizontal/Vertical control) 列表中，选择一个选项来确定绕草绘平面法向的框架旋转沿扫描如何定向 (扫描坐标系的 xy 轴)： ——“自动”(Automatic) - 截平面由 xy 方向自动定向。计算 x