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- 2020-02-18 发布于上海
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在蒸发和溅射这些物理淀积方法中,粒子几乎直线运动,存在台阶覆盖问题。随着集成电路尺寸的不断缩小和纵横比的提高,使台阶覆盖问题更为突出。此外,蒸发和溅射主要用于金属薄膜的淀积,不太适用于半导体薄膜和绝缘薄膜的淀积。 ; CVD 工艺的特点
1、CVD工艺的温度低,可减轻硅片的热形变,抑制缺陷的生成,减轻杂质的再分布,适于制造浅结器件及 VLSI ;
2、薄膜的成分精确可控、配比范围大,重复性好;
3、淀积速率一般高于物理淀积,厚度范围大;
4、膜的结构完整致密,与衬底粘附好,台阶覆盖性好;
5、集成电路制造中所用的薄膜材料,包括介质膜、半导体膜、导体膜等,几乎都能用 CVD 工艺来淀积。例如,
介质: SiO2、Si3N4、PSG、BSG、Al2O3、TiO2、Fe2O3
半导体:Si、Ge、GaAs、GaP、AlN、InAs、多晶硅
导体: Al、Ni、Au、Pt、Ti、W、Mo、WSi2 ; CVD 的分类
1、按温度,有低温 ( 200 ~ 500oC)、中温 ( 500 ~ 1000oC) 和高温 ( 1000 ~ 1300oC) CVD 。 ; 1
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